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争食2.5D/3D IC商机大饼 联电TSV制程明年量产

 April_IC 2013-02-25

争食2.5D/3D IC商机大饼 联电TSV制程明年量产

时间:2012-09-12 09:45:06来源: 作者:

联电矽穿孔(TSV)制程将于2013年出炉。为争食2.5D/三维晶片(3DIC)商机大饼,联电加紧研发逻辑与记忆体晶片立体堆叠技术,将采Via-Middle方式,在晶圆完成后旋即穿孔,再交由封测厂依WideI/O、混合记忆体立方体(HMC)等标准组装晶片。目前规画于今年第四季迈入产品实测阶段,并于2013年展开商用量产。

联华电子市场行销处长黄克勤认为,3DIC迈向普及仍需2~3年时间,原因包括制造成本过高、EDA工具仍未完备等。

联华电子市场行销处长黄克勤表示,联电与记忆体大厂尔必达(Elpida)正联手打造28奈米(nm)晶圆TSV制程,加速2.5D和3DIC问世。现基于Via-Middle的TSV生产技术已到位,今年第三季将在中段制程(MEOL)试作逻辑晶片与记忆体堆叠,并于第四季结合台湾半导体封测厂技术能量,展开产品层级封装(ProductLevelPackaging)与晶片效能、可靠度测试。

在半导体摩尔定律(Moore"sLaw)演进遭遇瓶颈之际,2.5D及3DIC设计将大幅增强晶片效能、频宽支援,同时能缩减功耗与印刷电路板(PCB)占位空间。因此,黄克勤强调,联电不断加码投资研发,并拉拢半导体设备、封测及晶片业者,按部就班建立3DIC生态系统,除能延续摩尔定律外,亦能扩张旗下晶圆代工业务范畴。预计明年联电的TSV制程导入商用后,营收也将显著加温。

与此同时,考量TSV未来将应用在20奈米以下先进制程,势将面临裸晶体积缩小后,微缩TSV直径与提升对位精准度的技术挑战,联电亦抢先展开新技术布局。黄克勤透露,联电将跳脱传统TSV制作方式,改良TSV制程结构,借以优化3DIC的可靠度与功能表现。

无独有偶,台积电亦致力发展2.5D/3DIC一条龙制程--CoWoS(ChiponWaferonSubstrate),并预计于2013年开始放量,冲刺3DIC晶圆代工的市占版图。不过,该方案几乎囊括TSV、晶??片堆叠与部分封测制程,可能发生与封测厂相互争利的情况,引发业界关注;相较之下,联电仍谨守晶圆代工分际。

黄克勤指出,联电的2.5D/3DIC解决方案,仅锁定Via-Middle的TSV服务,针对晶片商的设计精准凿穿晶圆,而矽穿孔露出(Via-reveal)或晶片堆叠组装等后段制程(BEOL)再交由封测业者操刀。由于专注TSV供应,将能避免设备投资负担过重或引来激烈的市场竞争,同时也能扩展客源与封测厂合作伙伴,削减物料清单(BOM)成本,促进3DIC价格更快达到市场甜蜜点,加速普及。

据了解,Via-Middle模式系晶圆产出后才增添一道TSV工序,与直接在晶圆制造时就进行TSV的Via-First,或晶圆交至封测厂手中才导入TSV的Via-Last两种方案相比,包括晶圆品质、良率及晶片商对设计的掌握度均较为出色,可望随着3DIC生态系统茁壮而崭露锋芒,成为晶圆代工厂的金鸡母。

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