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负责质量板块之仪器校验的朋友们都知道，为了节约开支，通常我们会把一些常用的小仪器拿来自己校验---内校。以下为电子秤、温度计、数显卡尺的内校方法，供大家参考。 仪器名称：电子称 参考文献： JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》 JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》 JJG 1036-2008《电子天平检定规程》 校准用基准设备：外校合格的标准砝码 校准方法： 根据被测电子称的精确度选择相应的标准砝码，取 3～4 个重量进行测量，每个重量重复测量 3 次，取平均值。 仪器名称：温度计 参考文献： JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》 JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》 JJG205-2005 《机械式温湿度计检定规程》 校准用基准设备：外校合格的恒温恒湿箱 校准方法： 将温度计的温度传感器放入恒温恒湿箱内， 另外一头接在恒温恒湿箱外面的温度计上面，当恒温恒湿箱温度达到设定的温度时，每隔 5 分钟读取一次温度计上面显示的温度，重复读取三次，取平均值。 仪器名称：数显卡尺 参考文献： JJF 1001-1998《通用计量术语及定义》 JJF 1059-1999《测量不确定度评定与表示》 GB/T 1214.1～1214.4-1996《游标卡尺类卡尺》 JJF 30-2012《通用卡尺检定规程》 校准用基准设备：外校合格的量块、数显外径千分尺、外校合格的刀口尺 校准方法： 1.使用刀口尺测量卡尺外量爪测量面的平面度。 2.使用量块和数显千分尺测量刀口内量爪的平行度。 3.使用量块测量数显卡尺的示值变动性、示值误差、测深尺示值误差。 以下为上面三种仪器内校的统计表格： |
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