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CMOS 开机电路 CMOS(Comple mentary Metal-Oxide Semiconductor)是互补金属氧化物半导体存储器,CMOS 是一种可读存储器 一．主板CMOS 电路组成: 主要由CMOS 随机存储器,实时时钟电路/RTC 电路(振荡器,晶振,谐振电容)电池/BAT 和 CMOS 跳线等几部分组成。 工作条件：VBAT、RTC跳线、3.3VSB、32.768KHZ、RSMRST 二.CMOS 电路简图: （本图纸引用自INTEL VIA(精英P4M800PRO-M-v10)） 首先是电池电压，经过电阻R466，加到三端二极管D20的2脚，（为主板没有插220V电压时候，提供一个3V左右的一个电压，给存贮器） 二极管3脚输出，经过C366滤波，加到跳线JBAT1 的1脚，然后经过跳线帽设置，由CB118滤波之后，加到南桥内部。  加到跳线JBAT1 的1脚，然后经过跳线帽设置，由CB118滤波之后，加到南桥内部。  经过跑线路，已经找到了南桥。接下来，我们查找主板待机以及上电时候，D20的3.3V电压来源。经过图纸查找，我们很快找到了3.3V的来源， 5VSUS经过AZ1117转换出 3.3VSUS，给CMOS电路使用，保障开机。3.3VSUS电压是主板上很重要的一个工作电压。  三.供电说明: ),当主板接电后,A点的电压为3.3V , B点的电压为3V(电池电压的C 点与B 点反向偏压截止同时实时钟(RTC)电路向CMOS 随机存储提供时钟(CLK)信号,CMOS 电路处于工作状态,当主板断电后,瞬间A 点电压变低,当低于3V 时,B 点电压比A 点电压高,电流从B 点流向C 点,此时由电池向CMOS 电路供电,保持CMOS 电路正常工作,CMOS存储器中的信息不丢失。 四.工作特点: 功耗低（10 毫微瓦）,可随机读取或写入数据,断电后用外加电池来保持存储器的内容不丢失,CMOS 随机存储器的容量一般为64 字节或128 字节。 五.CMOS 电路常见故障现象:（可用CMOS 放电处理此类问题） 1.主板不能开机； 2.断电或不通电； 3.System 不引导; 4.不读内存； 5.不认硬件； 6.死机蓝屏; 7.Cmos 保存不了设置。 清除CMOS 存储器中的信息，开机后再从BIOS 只读存储器中读取主板出厂时的默认值。 六.CMOS 电路的故障检修: A，保存不了CMOS 设置： 1.电池电压2.5V 以上，CMOS 跳线2V 以上; 注意:电池插座,INTEL 跳线座在主板通电后才会有电压 2.32.768KHZ 晶体是否启振; 3.更换谐振电容; 4.换IO; 5.换南桥。 B.时间不对，快或慢: 1.换32.768 晶振; 2.更换谐振电容; 3.换南桥。 C.进CMOS 设置程序,保存退出黑屏: 1.刷BIOS; 2.换I/O; 3.换南桥. D.CMOS 跳线上无压或偏低:拆除跳帽，测量跳线上有无2.0V 以上电压: E.32.768KHZ 晶体不启振: 七.没有3VSB 的维修方法： (1)量输入脚5VSB 有无电压到达： (2)量输出脚对地阻值有无短路：短路：①拆除集成网卡;②换SB. ) 正常：①确定控制脚上元器件有无损坏;②换三端稳压管.(多数为此问题 关键测试点 第一测试点：看电池是否有电，一般不低于2.5V。CMOS 无电，造成不能开机（主要出现在品牌机，组装机后一般不会）、CMOS 信息保存不了、不过内存和显卡等，CMOS 无电时，也不跑代码。 第二测试点：判断测试点跳线是否没跳，或跳错。跳错会导致：通电后CPU 风扇转一下就停或无反应、CMOS 信息不能保存。 第三测试点：判断晶振是否起振，晶振两端电压必须不相同，才能起振。晶振损坏后，会出现：两脚无电压；两脚电压一样；一脚有电压，一脚无电压；摸晶振时候，可以跑代码或者开机，不摸时候不能开机或者跑代码。以上反映的现象是晶振谐振电容都正常情况下，为南桥南桥虚焊或者损坏。 故障现象：①CMOS 信息不能保存。（供电、跳线都正常）晶振坏。 ②不能开机或跑代码。 ③有时能开机，有时不能开机。 ④系统时间不同步。（调节后，还是和实际时间不同） ⑤蓝屏，死机。（运行时候突然出现） 第四测试点：正电稳压器，损坏不能开机。 电阻损坏：供电不足，CMOS 时间不保存。（电阻阻值变大或者烧断）三端二极管：上部击穿，电池消耗过快。下部断路，开不了机。击穿基本没影响。
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