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① SEM—— 是Scanning Electron Microscope（扫描式电子显微镜）的简写。
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动（声子）、电子振荡（等离子体）。
利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构等信息。可进行形貌和定性分析。
② TEM—— Transmissionelectron microscope缩写，简称透射电镜。 是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。
散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构。可进行成份分析。 ③ XRD—— X-raydiffraction缩写，X射线衍射。 通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。可进行定性分析。
④ AFM—— AtomicForce Microscope，即原子力显微镜
是一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。
广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。 ⑤ GC-MS—— 气相色谱-质谱联用仪（GC-MS:Gas Chromatograph-MassSpectrometer）。
气相色谱分析：色谱的流动相为惰性气体，吸附剂对每个组分的吸附力不同，经过一定时间后，各组分在色谱柱中的运行速度不同。 吸附力弱的组分容易被解吸下来，最先离开色谱柱进入检测器，吸附力最强的组分最不容易被解吸下来，因此最后离开色谱柱。进而各组分得以在色谱柱中彼此分离，顺序进入检测器中被检测、记录下来。
质谱分析：使试样中各组分在离子源中发生电离，生成不同荷质比的带正电荷的离子，经加速电场的作用，形成离子束，进入质量分析器。在质量分析器中，再利用电场和磁场使发生相反的速度色散，将它们分别聚焦而得到质谱图，从而确定其质量。
⑥ XPS—— X射线光电子能谱分析（X-rayphotoelectron spectroscopy）。
是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，可进行定性分析。
⑦ FTIR—— FourierTransform Infrared Spectrometer，简写FTIR Spectrometer，简称为傅里叶红外光谱仪。
是基于对干涉后的红外光进行傅里叶变换的原理而开发的红外光谱仪，主要由红外光源、光阑、干涉仪（分束器、动镜、定镜）、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成，可以对样品进行定性和定量分析。
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