光电传感器发射端和接收端：发射端只有2根线一个接24V一个接0V，接收端3个线一根24V一根0V一根信号线吗？推荐回答：射端就只是个发射光源的作用:光线挡住与不挡住输出低电平0与高电平1之间变化，但注意输出极性（PNP NPN），看你需要,接了以后怎么工作，接PLC输入信号及继电器均可以， 接收端信号线要接什么  光电开关的输出类型的区别是什么？推荐回答：光电开关有三种输出类型：继电器输出， NPN, PNP输出。PNP的导通压降小 但反向耐压低 NPN相反;1.如果输入一个高电平，而输出需要一个低电平时，首选择npn。2.如果输入一个低电平，而输出需要一个低电平时，首选择pnp。3.如果输入一个低电平，而输出需要一个高电平时，首选择npn。4.如果输入一个高电平，而输出需要一个高电平时，首选择pnp。npn基极高电压，极电极与发射极短路.低电压，极电极与发射极开路.也就是不工作。pnp基极高电压.极电极与发射极开路，也就是不工作。如果基极加低电位，集电极与发射极短路。输出形式：分npn二线，npn三线，npn四线，pnp二线，pnp三线，pnp四线，AC二线，AC五线(自带继电器)，及直流NPN/PNP/常开/常闭多功能等几种常用的形式输出用万用表的电阻挡测.他们的原理就是放大器的原理.把万用表打到电阻挡,用万用表的2个表笔分别测,会发现电阻无穷大的2跟线,是电源线. 那么剩下的一跟就是信号线了.第2步.测量信号线和电源线的+级电阻小的是PNP型和电源线负极,电阻小的是NPN型这里还有一个小技巧,就是在万用表里的电源并不是在红表笔上,而是在黑表笔上. 建议最好使用数字万用表.根据显示正值时红表笔接的是正极，负值时红表笔接的是负极。继电器输出是开关量，只有开、关。 两根线接近开关怎么和信号线相连.....推荐回答：电源线（一般为棕色）接电源，信号线（二线一般为蓝，三线一般为黑）接PLC输入。 注意型号即正输出还是负输出。信号线主要是指在电气控制电路中用于传递传感信息与控制信息的线路。信号线往往以多条电缆线构成为一束或多束传输线，也可以是排列在印制板电路中的印制线，随着科技与应用的不断进步，信号线已由金属载体发展为其它载体，如光缆等。不同用途的信号线往往有不同的行业标准，以便于规范化生产与应用。 三个光电开关怎样串接起来，任何一个光电开关没有物体挡住都不能使信号线接通，求高手告知。推荐回答：是PNP型还是NPN型你的光电开关是常开的还是常闭的，神也帮不了你？ 这些都不说 光电开关的常闭和常开是怎么区别的，相互和转换吗，正负极和信号线接反了，会不会把光电开关给烧掉？推荐回答：暂无 pnp光电传感器，信号线接plc输入端时， 传感器失灵，当被物体遮挡时没有动作了。。。什么状况呢？推荐回答：那是因为光电传感器类型选错了，欧姆龙PLC应该选用NPN型光电传感器。 欧姆龙传感器E3Z-D61接怎么PLC请2详细说明？谢谢推荐回答：欧姆龙传感器接plc，PLC的输入com接0V，传感器褐色接+24V，蓝色接0V，信号线黑色接入输入端X。OMRON传感器是以光电器件作为转换元件的传感器。它可用于检测直接引起光量变化的非电量，如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等；也可用来检测能转换成光量变化的其他非电量，如零件直径、表面粗糙度、应变、位移、振动、速度、加速度，以及物体的形状、工作状态的识别等。光电式传感器具有非接触、响应快、性能可靠等特点，因此在工业自动化装置和机器人中获得广泛应用。近年来，新的光电器件不断涌现，特别是CCD图像传感器的诞生，为OMRON传感器的进一步应用开创了新的一页。欧姆龙传感器以光电器件作为转换元件的传感器。它可用于检测直接引起光量变化的非电量，如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等；也可用来检测能转换成光量变化的其他非电量，如零件直径、表面粗糙度、应变、位移、振动、速度、加速度，以及物体的形状、工作状态的识别等。OMRON位置传感器是采用光电元件作为检测元件的传感器。它首先把被测量的变化转换成光信号的变化，然后借助光电元件进一步将光信号转换成电信号。光电传感器一般由光源、光学通路和光电元件三部分组成。由光通量对光电元件的作用原理不同所制成的光学测控系统是多种多样的，按光电元件(光学测控系统)输出量性质可分二类，即模拟式光电传感器和脉冲(开关)式光电传感器。模拟式光电传感器是将被测量转换成连续变化的光电流，它与被测量间呈单值关系。模拟式光电传感器按被测量(检测目标物体)方法可分为透射(吸收)式、漫反射式、遮光式(光束阻档)三大类。所谓透射式是指被测物体放在光路中，恒光源发出的光能量穿过被测物，部份被吸收后，透射光投射到光电元件上；所谓漫反射式是指恒光源发出的光投射到被测物上，再从被测物体表面反射后投射到光电元件上；所谓遮光式是指当光源发出的光通量经被测物光遮其中一部份，使投射刭光电元件上的光通量改变，改变的程度与被测物体在光路位置有关。 |
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