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尺寸在生产过程中是最基本也是最重要的控制要素之一，尺寸测量要素、测量的方法、测量精度、测量标准、测量设备、测量工具工装、测量环境、测量人员、测量频次、测量成本是在产品策划或试生产时的时候必须要考虑的。 1、测量要素：首先了解一些名词术语： 长度：是空间的度量，为点到点的距离。 长度单位：长度的国际单位是米(m)，常用的单位有千米（km），分米（dm），厘米（cm），毫米（mm）,微米（μm）纳米（nm）等。 1千米=1000米 1米=10分米=100厘米=1000毫米=1000000微米=1000000000纳米 1分米=10厘米 1厘米=10毫米 1毫米=100丝米=1000微米 1微米=1000纳米 英制：以英国和美国为主的少数欧美国家使用英制单位，主要有英里、码、英尺、英寸。 英里(mile)1英里=1760码=5280英尺=1.609344公里 1 inch 英寸=25.4 mm 毫米 码(yard,yd) 1码=3英尺=0.9144米 英尺(foot,ft,复数为feet) 1英尺=12英寸=30.48厘米 图纸上一般都是MM毫米 真值：真值是一个变量本身所具有的真实值，它是一个理想的概念，一般是无法得到的。 实际尺寸：实际加工后测量所得的尺寸。 基本尺寸：就是你要得到的理想尺寸，不包含含公差。 公差：尺寸公差简称公差，是指允许的，最大极限尺寸减最小极限尺寸之差的绝对值的大小，或允许的上偏差减下偏差之差大小。 误差：是测量值与真值之间的差值。对任何一个物理量进行的测量都不可能得出一个绝对准确的数值，即使使用测量技术所能达到的最完善的方法，测出的数值也和真实值存在差异，这种测量值和真实值的差异称为误差。 相对误差：相对误差指的是测量所造成的绝对误差与被测量（约定）真值之比乘以100%所得的数值，以百分数表示。一般来说，相对误差更能反映测量的可信程度。 绝对误差：示值 - 标准值（即测量值与真实值之差） 测量精度：准确度等级是衡量仪表质量优劣的重要指标之一。 1、我国工业仪表精度等级有：0.005、0.02、0.05、0.1、0.2、0.35、0.4、0.5、1.0、1.5、2.5、4.0等。 级数越小，精度（准确度）就越高。 2、 工业过程测量和控制用检测仪表和显示仪表精确度等级 有：0.01，0.02，（0.03），0.05，0.1，0.2，（0.25），（0.3），（0.4），0.5，1.0，1.5，（2.0），2.5，4.0，5.0 ；共16个，其中括号里的5个不推荐使用。依据标准为 《GBT 13283-2008 工业过程测量和控制用检测仪表和显示仪表精确度等级》。 基准：基准就是用来确定生产对象上几何关系所依据的点，线或面。 基准分为：⑴ 设计基准、⑵ 工艺基准 工艺基准又分为： ⑴工序基准、 ⑵ 定位基准、⑶ 测量基准、 ⑷装配基准 形位公差：形位公差包括形状公差和位置公差。任何零件都是由点、线、面构成的，这些点、线、面称为要素。机械加工后零件的实际要素相对于理想要素总有误差，包括形状误差和位置误差。 形状公差：是指单一实际要素的形状所允许的变动量。形状公差带的特点：不涉及基准，它的方向和位置均是浮动的，只能控制被测要素形状误差的大小。 位置公差：是关联实际要素的位置对基准所允许的变动全量。位置公差是限制被测要素对基准要素所要求的几何关系上的错误。位置公差又分为定向公差、定位公差、跳动公差。
2、测量工具测量工具通常按用途分为通用测量工具、专类测量工具和专用测量工具3类。 测量工具还可按工作原理分为机械、光学、气动、电动和光电等类型。这种分类方法是由测量工具的发展历史形成的。但一些现代测量工具已经发展成为同时采用精密机械、光、电等原理并与电子计算机技术相结合的测量工具，因此，这种分类方法仅适用于工作原理单一的测量工具。 通用测量工具 可以测量多种类型工件的长度或角度的测量工具。这类测量工具的品种规格最多，使用也最广泛，有量块、角度量块、多面棱体、正弦规、卡尺、千分尺、百分表(见百分表和千分表)、多齿分度台、比较仪、激光测长仪、工具显微镜、三坐标测量机等。 专类测量工具 用于测量某一类几何参数、形状和位置误差（见形位公差）等的测量工具。它可分为：①直线度和平面度测量工具，常见的有直尺、平尺、平晶、水平仪、自准直仪等；②表面粗糙度测量工具，常见的有表面粗糙度样块、光切显微镜、干涉显微镜和表面粗糙度测量仪等（见表面粗糙度测量）；③圆度和圆柱度测量工具，有圆度仪、圆柱度测量仪等（见圆度测量）；④齿轮测量工具，常见的有齿轮综合检查仪、渐开线测量仪、周节测量仪、导程仪等（见齿轮测量）；⑤螺纹测量工具（见螺纹测量）等。 专用测量工具 仅适用于测量某特定工件的尺寸、表面粗糙度、形状和位置误差等的测量工具。常见的有自动检验机、自动分选机、单尺寸和多尺寸检验装置(见自动测量)等。
百分表
千分表
内径百分表
塞尺
塞规
塞规
针式塞规
螺纹塞规与环规
测量投影仪
影像测量仪
三坐标测量仪
多关节三坐标测量仪
悬臂式三坐标测量仪
扫描电子显微镜 纳米级测量设备：SEM的二次电子像分辨本领可达1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝),放大倍数变化范围大（从几倍到几十万倍），且连续可调；
测量系统分析（MSA）：使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析，以评估测量系统的分辨率和误差对于被测量的参数来说是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。具体原理和要求详见MSA手册
测量成本： 测量是需要成本的，测量工具、工人费用、材料费用等等，第三方检测机构测量，如三坐标测量一般是两种：按照时间，200-400一个小时，按照打点数量，10块左右一个点。有的40-50一个尺寸。所以测量要考虑经济。 测量环境：一般根据产品的特性来进行制定，有产品才测试敏感，不同环境下测量结果会有偏差，正常实验的温度控制在21-25度， 测量工装：有些形状不规则的产品需要辅助测量工装，工装的精度也会影响测量结果。
测量人员：测量人员对测量结果影响是非常大的，
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