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失效模式分析 目录

 英杰超 2018-03-05

?  FMA=失效模式分析
(Failure Mode Analysis)第一阶段定义:
最低级的FMA,即
会分析不良品;
?第二阶段定义:
初级的FMA,知道
不良形成的原理;
?第三阶段定义:
中级的FMA,能分
析出造成不良的原
因;
?第四阶段定义:
高级FMA,不仅能
分析造成不良原因
还能解决!
?例:有3PCS不良品分别有A、B、C、D四人做FMA分析,A读出rawdata标出坐标,OM下分析出是刮伤异常;B不仅分析出刮伤,还能解释其rawdata形成的电性原理;C兼具AB的能力,且分析出导致刮伤的原因为固定位置有东西刮到;D在C的基础上,现场观察分析出导致刮伤的为定位PIN并及时通知工程改善!
?OM(显微镜)使用介绍
?1.目镜:用于眼睛观察物体,与物镜配合形成具体倍率,一般为5X;
2.物镜:主要用于放大被观察物体,与目镜配合形成倍率,一般为5X~100X;
3.正光:正光又称为反射光一般从物镜处发出,用于观察物体表面不良;
4.背光:背光又称穿透光,一般从地部发出,用于观察物体有无透光;
5.上偏光片:用于变换正光的角度,以此从不同角度观察物体;
6.下偏光片:用于变换背光角度,作用同上,一般使用不到或没有安装;
7.粗调与微调:用于调整物体焦距,粗条为大范围调整,微调为细微调整;
8.移动方向操作杆:用于控制载物平台上下方向移动;
们使用显微镜观察物体的倍率计算方式为目镜倍率×物镜赔率

OGS 最常用英文名词与含义简介
?TP      touch panel            触屏面板             所有提起触控面板地方

/       raw data               原始数据             抓取不良品数值时候

ESD    Electro Statlc Discharge   静电放电            造成TP不良的主要凶手之一

 /      user                    使用者              提及TP无线路的一面(正面)

 /      sensor                  传感器              提及TP有线路的一面(反面)

GND   ground                  接地 地线           任何与ESD防护有关地方

  /     range                   范围               用于TP测试软件数值设定范围

  /     short            

                               短路               描述短路现象        

  /     pin fault          

  /     Open                   开路               描短路现象

OGS    one glass solution     单片玻璃解决方案     描述对应车间为OGS车间

BM    Black Matrix          黑色矩阵             称TP外围黑色区域为BM

ITO    Indium Tin Oxides      锡氧化物(透明导电膜)    TP内部sensor面线路材质

 /      Array           排列(OGS已等于来料代名词)    对OGS 车间而言TP来料问题

                                                       都称为Array 问题

IR      Infra-red         红外线              指的是TP上红外线孔及其支程站点的简 称 
?

ESD 含义与伤害简介
ESD 是英文Electro Static Discharge 的缩写;即“静电放电”的意思。
静电:是一种电能,留存在物体表面,具有高电位、低电量、小电流和作用时间短的特点。

?静电的带电量一般比较小,但是电压很高. Q=C*V
人体需要用高达4KV的静电放电才能感到“刺激”,而一般电子产品的设计工作电压极低(3--5V),因此电子元件极易被静电放电损坏.

Touch panel Array process简介(L1教材)
Touch panel原理简介(L1教材)
常见异常raw data分析技巧汇总(L2教材)
常见TP Reason code判定技巧(L3教材)
ABL机制(L3教材)
现场异常点排查手法(L3教材)
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电子学基本单位介绍
TP外观简介

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