概述
分类和结构 数显外径千分尺 工作原理 运用螺旋副传动原理,借助测微螺杆与螺母配合,将螺杆的回转运动变为直线运动,从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。 读数 读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线,纵刻线上下有50个分度,每个分度为0.5mm。微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周。微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转一个分度时(1/50转)测微螺杆移动0.01mm。 读数举例: 校准和技术要求
3、4等量块(专用量块) 平面平晶、平行平晶、刀口尺
1、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验 2、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动:手感检查 必要时使用杠杆千分尺检查( 要求≤0.01mm) 3、测力:用分度值不大于0.2N的专用测力计 测力应为(5~10)N 4、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离: 用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量( ≤ 0.4mm ) 5、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离: 当测量下限调整正确后,读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量 要求:压线≤0.05mm 离线≤0.1mm 6、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法 对于后续校准的可用刀口尺以光隙法 要求: 外径千分尺 ≤0.6um 壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um 数显外径千分尺≤0.3um 7、数显外径千分尺的示值重复性: 在相同条件下重复测量5次分别读数,以最大与最小读数差确定 要求: ≤1um 8、两测量面的平行度:测量上限至100mm用平行平晶检查,或可用量块检查。 采用量块时,其4块尺寸差为1/4螺距,每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数,以四组差值中最大值来确定。 要求:见下表 千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度 9、示值误差: 外径(壁厚、板厚)用5等量块,数显用4等量块校准,或用千分尺专用量块。 在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量。 (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00) A—测量下限值 示值误差要求见上表 10、数显千分尺的细分误差:在任意位置上,沿测量方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差,以其最大差值确定。 要求≤±2um 11、校对用量杆(尺寸及变动量): 外径:在光学计或测长机上用4等量块以比较法 数显:在光学计或测长机上用3等量块以比较法 尺寸:如图所示5点中最大偏差 变动量:如图所示5点中最大与最小尺寸之差 千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量 正确使用和注意事项
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