AEC

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　　AEC-Q100是汽车集成电路(IC)的重要应力测试标准。由AIAG汽车组织开发的用于集成电路的资格认证测试流程。包括了一系列应力测试失效机理、最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效，目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。

　　这些测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检测以下：

　　a、任何潜在的新的和独特的失效机理

　　b、任何应用中午显示但测试或条件可能会导致失效的情况

　　c、任何相反地会降低加速失效的极端条件和应用

　　AEC-Q100是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。AEC-Q200主要是对无源(被动)器件的应力测试，依据MIL-STD-202与JEDEC22A-104规范所制定。

　　AEC Q100/Q200 差别：

　　AEC-Q200：stress test qualification for passive components，被动元件汽车级品质认证;--例如电解电容；

　　AEC-Q100：Stress Test Qualification of Integrated Circuits集成电路的汽车级质量认证。--例如IC等。