1. 样品要求 固体,无毒,无放射性,无污染,无磁,无水,成分稳定 2. 常用方法 一般分块状样品、粉末样品和截面样品制备三类
低倍率观察(<5万倍)-- 导电胶带 高倍率观察(>5万倍)-- 液体导电胶
可以直接固定在导电胶带或者液体导电胶上,见图 注意:如果是导电胶带,揭下来的剥离纸一定要倒着放,撒完样品后在用剥离纸干净的面压一下,固定的才回牢 如果是液体导电胶,最好是用水溶性的,不容易和样品发生反应,撒样品的时间点控制在导电胶快干的时候撒,才能使样品达到半浸没状态。 也可以用分散法:
如果是硅片或者是玻璃,需要用到玻璃刀,见图 注意:用玻璃刀划的时候要让开观察的面,也就是说可以上面和下面各划一下,然后再掰就可以了 根据不同样品材质,有的时候是正面掰好,有的时候是从背面掰好。 对于薄膜类的样品,可以用液氮粹断,如下图 1. 样品要求
2. 载网与支持膜的选用 载网通常是一种多孔的金属片,对样品起加固和支撑作用。载网可以用Cu、Ni、Mo、Al、W、Au及尼龙等材料制作,但通常使用Cu制作,故统称铜网。它有许多不同的规格,可根据样品的性质选择使用。大多数透射电镜样品在制样时,为了确保样品能搭载在“载网”上,会在“载网”上覆一层有机膜,称为“支持膜”。这种具有支持膜的载网,称为“载网支持膜”。 支持膜为一层非晶质的薄膜,厚约20nm。它在电子束照射下应该是“透明的”,本身并无任何结构,且与样品不会发生反应。 下面具体介绍支持膜的分类:
碳支持膜是在方华膜(也可用火棉胶)上再覆盖一层碳,是最常见并被广泛采用的支持膜。当样品放在电镜中观察时,“载网支持膜”在电子束照射下,会产生电荷积累,引起样品放电,从而发生样品飘移、跳动、支持膜破裂等情况。所以,在支持膜上喷碳,提高支持膜的导电性,达到良好的观察效果。一般膜厚度为7-10nm。 碳支持膜是以有机层为主,膜层较薄,背底一般影响很小。通常用水或乙醇分散样品,支持膜均不会受腐蚀。 如果您的样品属于磁性粉末样品可以使用两种方法: 1.树脂包埋,超薄切片;2.可以使用双联网碳支持膜。 双联网碳支持膜
纯碳支持膜是在碳支持膜的基础上,将有机层用特殊方法去除后得到的纯碳膜,很适合需要在有机溶剂或高温下处理的样品(如:氯仿、四氢呋喃等有机溶剂下使用)。适合观察10nm以上的样品。膜总厚度:20~40nm。 超薄碳支持膜是在微栅的基础上,叠加了一层很薄的碳膜,一般为3-5nm。这层超薄碳膜的目的,是用薄碳膜把微孔挡住。这主要是针对那些分散性很好的纳米材料,如:10nm以下的样品,分散性极好,如果用微栅就有可能从微孔中漏出,如果在微栅孔边缘,由于膜厚可能会影响观察。所以,用超薄碳膜,就会得到很好的效果。
在制作支持膜时,特意在膜上制作的微孔,所以也叫“微栅支持膜”,它也是经过喷碳的支持膜,一般膜厚度为15-20nm。它主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘,以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度。所以,观察管状、棒状、纳米团聚物等,常用“微栅”支持膜,效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时,更是最佳的选择。
纯方华膜:方华支持膜的化学成分是聚乙烯醇缩甲醛,可溶于二氯乙烷或三氯甲烷溶液,所形成的膜,强度高,透过率好。由于无碳方华膜是纯的有机膜,上面没有任何镀层物质,所以膜的弹性好,背底影响小,可支持多种样品观察。是承载超薄切片的理想材料,在观察纳米粉末等材料时,也表现的非常出色。但方华膜因导电性能不好,在电子束照射下,会因高温或电荷积累,引起局部受热碳化,产生局部黑斑,样品漂移,甚至使膜破碎,损伤被观察样品。通常在100kv电镜上使用较多。膜厚度通常为10-15nm。推荐选用200目载网。 镀金支持膜:是在一层有机方华膜上再覆盖一层金膜,便于EDS检测。膜厚度:10~20nm。推荐选用200目载网。 氮化硅薄膜窗格:可承受1000°C以上的高温。弹性较好,适用于各种样品制备技术,在电子束轰击下比较稳定,衬度及亲水性较碳膜稍差。 3. 如何区别载网正反面 比较靠谱的方法是通过对比载网边缘与中间区域亮度,碳膜的一面被视为正面。 正面:载网边缘与中间区域亮度相同 反面:载网边缘的亮度高于中间区域 |
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