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光电耦合器的静态检测法 来源： 作者：山西 张树弼 采用静态检测法检测光电耦合器的方法如下： 用万用表选电阻Rx100挡，不得选Rx10k挡，以防电池电压过高击穿发光二极管。 红、黑表笔接输入端，测正、反向电阻，正常时，正向电阻为数十欧姆，反向电阻几千欧一几十千欧。若正、反向电阻相近，表明发光二极管已损坏。 万用表选电阻Rx1挡。红、黑表笔接输出端，测正、反向电阻，正常时均应接近于∞，否则受光管损坏。 万用表选电阻Rx10挡。红、黑表笔分别接输入、输出端测发光管与受光管之间的绝缘电阻（有条件应用兆欧表测其绝缘电阻，此时兆欧表输出额定电压应略低于被测光电耦合器所允许的耐压值），发光管与受光管间绝缘电阻正常应为∞。 |
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