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目录简介IOPS（Input/OutputOperations Per Second）是一个用于计算机存储设备（如硬盘（HDD）、固态硬盘（SSD）或存储区域网络（SAN））性能测试的量测方式，可以视为是每秒的读写次数。和其他性能测试一様，存储设备制造商提出的IOPS不保证就是实际应用下的性能。 IOPS的数值会随系统配置而有很大的不同，依测试者在测试时的控制变因而异，控制变因包括读取及写入的比例、其中循序访问及随机存取的比例及配置方式、线程数量及访问队列深度，以及数据区块的大小。其他因素也会影响IOPS的结果，例如系统设置、存储设备的驱动程序、操作系统后台运行的作业等。若在测试固态硬盘时，是否先进行预调（preconditioning）机制也会影响IOPS的结果。 [1] 性能特性最常量测的性能特性是随机存取及循序访问时的IOPS。循序访问是访问存储设备中相邻位置的数据，一般和较大的数据区块访问有关，例如128KB，随机存取是访问存储设备中非相邻位置的数据．一般访问的数据区块比较少，例如4KB。 [1] 最常见的性能特性如下：
对于硬盘或是其他类似的机电存储设备，其随机存取IOPS主要和存储设备的寻址时间有关，若是固态硬盘及其他固态电子设备，其随机存取IOPS主要和存储设备的内部控制器及记亿体接口速度有关。这两种设备的循序访问IOPS（尤其是访问大数据区块）一般会包括存储设备可以持续的最大带宽。 有些硬件会因为其队列深度增加而提升其性能，这多半是因为硬盘处理队列及重新排序（reordering）的先进控制器逻辑的结果，此逻辑一般称为标记命令队列（TCQ）或原生指令排序（NCQ）。企业档次的SATA硬盘，例如Western Digital Raptor及希捷的Barracuda NL配合深队列可以提升性能到100%。较常用在服务器的高端SCSI硬盘，一般性能有更大的提升。 传统的硬盘读取和写入的IOPS大约相同，而大部分闪存SSD的写入速度明显比读取慢很多，原因是无法写入一个之前写过的区域，会强制启动垃圾数据回收功能。因此硬件测试开始在测试IOPS性能时，分开测试写入和读取。 像Intel X25-E等较新的闪存SSD固态硬盘其IOPS会比传统的硬盘要高，在Xssist进行的一个测试中，用IOmeter软件，4KB随机存取，读取/写入比例为70/30，队列深度4，Intel X25-E 64GB G1的IOPS一开始有 10000 IOPs，在八分钟后快速掉到4000 IOPS，之后的42分钟持续的下降，自第50分钟起到第八小时之间，IOPS在3000至4000之间变化。即使第50分钟IOPS快速下降，X25-E的IOPS仍较传统硬盘要高。像OCZRevoDrive 3 x2 PCIe用SandForce控制器，其持续写入性能和读取速度大致相近。[1] 一些IOPS的示例硬盘驱动器
固态设备
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