提供样品测试 XB6092I2是赛芯微针对TWS耳机推出的一款DFN1*1的小体积锂电保护芯片,直接用于耳机主板,具有过充、过放、过流过温以及负载短路保护等。 XB6092I2产品是一种高集成度的锂离子/聚合物电池保护解决方案,可提供样品测试。 应用领域: 单电池锂离子电池组 锂聚合物电池 可穿戴设备 蓝牙耳机 功能描述: XB6092I2监控电池的电压和电流,并通过断开电池与负载或充电器的连接,保护电池不受过充电压、过放电电压、过放电电流和短路条件的损害。为了使电池在规定的范围内工作,需要这些功能 该设备只需要一个外部电容器。集成了MOSFET, Rss(ON)低至60mΩ typica 正常操作状态: 如果没有检测到异常情况,充电和放电可以自由进行。这种情况称为正常工作模式。 过度充电状态: 当电池电压高于正常充电时的过充电检测电压(Vcu)时 当过充检测延迟时间(tcu)或更长时 XB6092I2关闭充电控制FET停止充电。这种情况称为过充情况。超充情况在以下两种情况下得到释放: 1、当电池电压降至过充释放电压(Vcu)以下时,XB6092I2开启充电控制FET,恢复正常。 2、当负载接通并开始放电时,XB6092I2开启充电控制FET,恢复正常。其释放机制如下:放电电流通过的内部寄生二极管的VM引脚电压从GND引脚电压瞬间增加约0.7 V(二极管正向电压)。XB6092I2检测到这个电压并释放过充电状态。 因此,如果电池电压等于或低于超载检测电压((Vcu),立即XB6092I2返回到正常状态,但在电池电压高于超载检测电压((Vcu),芯片不返回到正常状态,直到电池电压低于超载检测电压((Vcu)即使负载连接。此外,当负载接通并开始放电时,如果VM引脚电压等于或低于过流检测电压,则芯片不回复正常状态。 过量放电条件 当电池电压再正常放电状态下低于过放电检测电压(Vdl),并持续过放电检测延迟时间(Tdl)或更长时,XB6092I2关闭放电控制,停止放低电。这种情况叫做过放电 异常充电电流检测 |
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