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TF卡测试座

 kzt3899 2020-11-03

  

产品简介

1. 采用手动翻盖式结构,操作方便; 
 

2. 产品通用程度高,只要换限位框,即可测试所有引脚相同,外形尺寸不同的TF卡; 

3. 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证TF卡的压力均匀,不移位; 

4. 高精度的定位槽,保证TF卡定位精确,生产效率高;

5. 配不同的主探板,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换! 

6. 交货快:最快一天内交货。

 7. 探针材料:铍铜(标准); 

8. 探针可更换,维修方便,成本低; 

9. 绝缘材料:FR-4、PPS等; 
 

10. 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离)

11. 可以定制TF卡/SD卡1拖4的夹具; 

12 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台; 

13. 可定制三合一开卡器;

14.可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具; 

15. 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具(兴邦、安国、迈克微),更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用; 
 

16. 可定制UDP一拖十六测试夹具; ※ 可提供FLASH全端测试解决方案;比如,基于编程器(烧录机)原理的烧录    (低端格式化)和基于U盘的低级格式化解决方案;

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