中国电工技术学会活动专区
CES Conference
中国电工技术学会活动专区 CES Conference
图1 紫外老化平台示意图 图2 高光谱试验平台模型室 在使用人工紫外加速老化试验箱对HTV硅橡胶样品进行加速老化试验,并用高光谱技术对加速老化后样品的老化状态进行检测,用DELM分类模型对老化样品进行评估后,西南交通大学的研究人员得到以下结论: 图3 不同老化程度绝缘子预测结果 表1 算法效果比较 以上研究成果发表在2021年第2期《电工技术学报》,论文标题为“基于高光谱技术的复合绝缘子表面老化程度评估”,作者为张血琴、张玉翠、郭裕钧、刘凯、吴广宁。 |
|