【原】EETOP资深版主最新JSSC论文：《一种电荷分享锁定技术与注入锁定相位噪声通论》

这是EETOP Analog IC论坛资深版主胡诣哲博士最新JSSC论文，已分享在EETOP论坛

链接：http://bbs./thread-910002-1-1.html

内容摘要：

随着Leeson模型，ISF理论，s-域分析的引入，对于振荡器和锁相环的 “相位噪声理论大厦” 似乎已经建成，剩下的只是一些修修补补的工作。
然而，这座 “大厦” 周围始终飘着 “两朵乌云”：“低频闪烁相位噪声机理（Flicker noise upconversion）” 和 “注入锁定（Injection Locking）相位噪声机理”。

它们长期以来难以被固态电路学界和集成电路业界准确理解。

Bogdan课题组针对前者做了大量研究，旨在 “彻底” 厘清 flicker phase noise。

对于后者，请参看我们最新JSSC论文：
A Charge-Sharing Locking Technique With a General Phase Noise Theory of Injection Locking

https://ieeexplore./document/9530245   (Open Access)


这篇文章中我们引入了一种全新的相位锁定技术，“电荷分享锁定 Charge-Sharing Locking（CSL）”，旨在同时获得超低抖动性能（75fs）和PVT健壮性，应用于5G毫米波时钟产生。


同时，我们提出全新的 “多速率时间戳 （z 域）” 相位噪声模型。

它可以解释全部的电荷分享锁定（注入锁定）相噪现象。

例如：为什么它的带宽可以高达一半的参考频率，为什么振荡器的带外相噪会“神奇地”提高3dB。




仿真结果，测试结果，和我们的计算结果完美匹配（低于0.5dB的误差）。

芯片系统：

 
仿真结果：


测试结果：

计算结果：

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http://bbs./thread-910002-1-1.html

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