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软件研发过程中产生的缺陷，如何更好的进行分析，来辅助整体的研发能力和测试水平的提升？以下介绍一种使用比较广泛，比较全面的缺陷分类统计分析方法 - 正交缺陷分类方法。 正交缺陷分类法(Orthogonal Defect Classification, ODC)由IBM公司提出，它结合了根本原因分析和统计建模两种软件缺陷分析技术的优势，提供了一套用于捕获缺陷数据关键特性的方案，并就如何对分类的缺陷数据进行分析给予了指导。ODC用多个属性来描述缺陷特征，它的最新版本定义了８个缺陷属性，对应了缺陷的发现和修复两类特定的活动。其中Defect Type和Triggers属性是该分类方法的基础。Defect Type反映了缺陷的内在特征，Triggers则反映了缺陷的形成过程。ODC适用于缺陷的定位、排除、原因分析及预防活动，同样，它也可用于改进的软件开发过程。 ODC的缺陷属性定义如下： 1、Activity 活动 指的是缺陷发现的具体活动，如单元测试、系统测试等。 2、Triggers 触发 指的是促使潜在的缺陷显露成为一个可见的故障需要哪些条件和操作。即通过这个条件和操作，可以重现这个缺陷。触发因素属性与软件的生命周期相联系，在不同的阶段有不同的方法用于发现缺陷，与之相应就有不同的触发因素。 3、Impact 影响 指的是对用户或者认识到的、或者实际的影响。 4、Target 目标 指的是修复缺陷时，需要改动的目标，如设计、代码等修复缺陷。 5、Defect Type 缺陷类型 缺陷类型被分为8大类: 赋值、检验、算法、时序、接口、功能、依赖、文档。对于相关缺陷类型的说明如下：
6、Qualifier 限定词 定义了引起缺陷的原因，确定缺陷类型是缺失、不正确还是多余。即修改要做哪些工作，是增加缺少的功能代码、修改不正确部分还是删除多余的代码。 7、Source 来源 指的是缺陷是通过什么途径引入的。比如：开发人员自己引入，重用库中的错误，第三方软件问题或移植的其它软件的错误。 8、Age 阶段 指的是缺陷是在哪个阶段引入的。指明是原来版本存在的或者新发现的，是重写函数时引入的还是修复之前缺陷时引入的。 利用正交缺陷分类方法，能很好的对缺陷进行定义和分析，但因为其的复杂性，在使用过程中，有几点需要注意的事项：
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