前 言为减少用户在产品开发过程中对DSP外设接口程序进行整合的难度，创龙科技提供已对各DSP主要外设接口实现底层初始化的RTOS综合功能测试IFD(Integrated Function Demo)案例程序。用户可基于此IFD案例程序模板进行开发，加快项目研发进度。 IFD案例位于产品资料“4-软件资料\Demo\DSP_Demo\”目录下，主要功能为EEPROM、NOR FLASH和NAND FLASH等存储设备读写速率测试，以及SRIO、PCIe、EMIF16和Ethernet等外设接口测试，详细说明见下表。 表 1
本文档案例程序默认使用DSP端主频为1GHz、DSP端DDR3容量为1GByte的核心板，通过TL-XDS200仿真器加载运行进行操作效果演示，核心板是一款基于TI KeyStone架构C6000系列TMS320C6678八核C66x定点/浮点DSP以及Xilinx Kintex-7 FPGA处理器设计的高端异构多核工业级核心板，内部DSP与FPGA通过SRIO、EMIF16、I2C通信总线连接，并通过工业级高速B2B连接器引出千兆网口、PCIe、HyperLink、EMIF16、GTX等高速通信接口。核心板经过专业的PCB Layout和高低温测试验证，稳定可靠，可满足各种工业应用环境。 用户使用核心板进行二次开发时，仅需专注上层运用，降低了开发难度和时间成本，可快速进行产品方案评估与技术预研。 硬件连接如下：
请运行IFD案例程序，串口调试终端将会打印如下测试结果。
EEPROM测试数据大小为32KByte，读速率为0.04MB/s，写速率为0.02MB/s，误码率为0。
NAND FLASH测试数据大小为128KByte，读速率为0.80MB/s，写速率为0.48MB/s，误码率为0。
NOR FLASH测试数据大小为128KByte，读速率为1.27MB/s，写速率为0.11MB/s，误码率为0。
DDR3测试数据大小为64MByte，写速率为33321Mbps，误码率为0。
EMIF16(FPGA)测试数据大小为2MByte，读速率为44.29MB/s，写速率为42.50MB/s，误码率为0。
PCIe串口调试终端打印如下信息，则说明评估板作为PCIe EP设备与PCIe RC设备通信成功。
SRIO(FPGA)测试数据大小为64KByte，写速率为9234Mbps，读速率为7503Mbps，误码率为0。
Sensor串口调试终端打印读取到的温度数据。
FAN程序控制风扇先转动后停止，再持续转动。
Ethernet实现TCP和UDP Server网络功能，串口调试终端同时打印动态获取到的IP地址。 LED程序控制所有DSP端板载用户指示灯进行闪烁。 UART请在串口调试终端窗口输入任意字符，此时串口调试终端将会回显输入的字符。 KEY请按下评估板用户按键SW2，此时串口调试终端将会打印如下提示信息。
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图 1 核心板正面图
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