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图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。ENVI的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计，统计结果以数字报表或文件形式给出。 1. 图像像素统计 统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等 1) 直接统计 (1) 快速统计 快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。 在Available Band List下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击Quick Statics即可弹出统计界面。  基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。  选择绘图函数   中键（滚轮）按下拉框放大  右键弹出图像绘制参数设置功能菜单 可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。  设置绘图显示参数  查看统计报表  (2) 完整统计 选择菜单[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]，选择文件后弹出统计界面。  统计类型包括 Basic Stats（基本统计：最大值、最小值、均值和标准差） Histograms：直方图； Covariance：协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量； Covariance Image：生成协方差、相关系数和本征向量文件； Output to a Statistics File：生成.sta文件，可通过主菜单[Basic]-[Statics]-[View Statics File]查看； Output to a Text Report File：统计结果输出为文本文件； Report Precision：设置统计精度（浮点数小数点个数）； 2) 去除背景值 很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。 (1) 感兴趣区统计 ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的[Overlay]-[Region Of Interest]。对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具上的Statics按钮。  需要注意，点击[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]功能选择文件时，若选择ROI，则统计的是ROI的最小外包矩形范围内的图像。  (2) 掩膜统计 统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。 掩膜创建方式：[Basic Tools]-[Masking]-[Build Mask]，选择显示窗体后弹出掩膜定义界面。  掩膜创建可选择菜单[Options]下的选项，可以选择数据范围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。 点击[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]功能选择文件时，选择掩膜文件即可。  3) 统计扩展补丁 如需要单独忽略特定值的统计，可以使用统计扩展补丁。   http://bbs./ESRI/thread-68867-1-1.html 4) 多波段统计 多波段影像的波段间统计可以点击主菜单[Basic Tools]-[Statistics]-[Sum Data Bands]，弹出操作界面。  可选择波段间的计算函数，有Sum（求和）、Sum^2（平方和）、Mean（波段平均值）、Standard Deviation（标准差）、Variance（方差）、Skewness（偏斜度）、Kurtosis（峰度）和Mean Absolute Deviation（平均绝对偏差）。 文章来源：http://blog.sina.com.cn/s/blog_764b1e9d0100rdk7.html |
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