【原】如何创建自己的缺陷分类？

缺陷分类可以给组织带来很多好处（参见《缺陷分类的作用》），那么如何创建自己的缺陷分类呢？

通常我们可以奉行“拿来主义”，从别人那里获取现有的缺陷分类，然后再根据自己的实际情况进行适应性修改、完善。

可以借鉴的缺陷分类有：《软件测试技术》、《计算机软件测试》书中提供的缺陷分类IEEE Std 1044-1993中的缺陷分类等。

除此以外，我们还可以使用头脑风暴方法来建立自己的缺陷分类，一般流程如下：

• 选定一个被测对象。

• 召集测试人员、开发人员或者其他有经验的人员等通过头脑风暴会议生成一个初步的缺陷类型。

• 将初步的缺陷类型整理归类，并赋予一个合适的缺陷分类名称。

• 根据实际情况，对初步的缺陷分类进一步划分子缺陷分类。例如，初步的缺陷分类是安全性问题，那么可以将其细化为用户登录和文件访问安全性问题等。

• 形成缺陷分类后，测试人员根据缺陷分类确定失效模式并设计测试用例。

• 测试人员在测试过程中持续改进缺陷分类，通过不断添加和更新已有的缺陷分类形成适合组织和项目特征的缺陷分类，直至完成测试活动。

当项目结束后，组织应当收集项目的缺陷分类信息，进行归类汇总，去除冗余，形成组织级的缺陷分类，将其纳入组织资产，以供新的项目借鉴使用。

• 按照软件产品类型进行分类汇总，如嵌入式软件、非嵌入式软件、FPGA。

• 对缺陷分类及子缺陷分类进行汇总，去除冗余。

• 对分类汇总的缺陷分类列表进行评审。

• 将通过评审的缺陷分类列表纳入组织资产库。

• 组织发布缺陷分类列表。

• 必要时，对缺陷分类列表的使用进行培训。

这正是：

缺陷分类很有用，只靠拿来却不能

创建自己才是好，简单方法就有效

参考书目：软件测试设计，作者：马均飞，郑文强，出版社：电子工业出版社