福建正闽钢圈制造有限公司
统计过程控制作业指导书
（SPC）
编号： JS-WI-003
版本： A/0
编制： 蒋可能
审核： 高书辉
批准：
目的
提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控制界限与进行控制图的判读。
范围
X-R控制图、P控制图、Cpk（制程能力指数）的运用管理。
定义
3.1 计量值特性
凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重长等。
3.2 计数值特性
凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的 特性，例如不合格数、不良品率等。
职责
4.1 相关部门：SPC的运用与维持。
4.2工程部：SPC的使用的规划。
作业指导
5.1控制图使用规划及选择原则
5.1.1 使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效
益，全面规划需采取控制图控制的工序和产品特性。
5.1.2 选择原则
5.1.2.1 计量值特性选用X-R控制图。
5.1.2.2 计数值特性选用P控制图。
5.2 控制图绘制、使用步骤
5.2.1 首次使用控制图的作业程序
5.2.1.1 决定须控制的特性。
5.2.1.2 搜集25组数据。
5.2.1.3 计算中心线(平均值)及控制上、下限。
5.2.1.4 绘制控制图。
5.2.1.5 检查是否有超出控制界限的点
5.2.1.6 将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及控制上、下限。
5.2.1.7 决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。
5.2.2 现场使用控制图的作业程序
5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。
5.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图
种类进行计算。
5.2.2.3 将计算结果描点于控制图上。
5.2.2.4 控制图判读及异常控制图纠正/预防措施
5.2.2.5 检讨控制界限
5.2.2.5.1当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及控
制上、下限。计算时须剔除超出控制界的资料。
5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限。
5.2.2.5.3 若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心线（平均值）
5.2.2.5.4 若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、下限。
5.3 控制图判读原则及异常控制图的纠正/预防措施
5.3.1 正常之控制图其各点的动态为：
5.3.3.1 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施。
5.3.3.2 对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随
机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。
5.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出《纠正/预防
措施要求书》要求其改善。
5.4 X－R控制图的使用方法
X－R控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管
制的目的。
5.4.1 决定样本数
5.4.1.1 使用X－R控制图的样本数（n）以2 ~ 5个为适当，但不要超过10个为宜。
5.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。
5.4.2 平均值与全距的计算
5.4.2.1 平均值（X）= 各组内数据的和÷样本数。
5.4.2.2 全距（R）= 各组内的最大值－最小值。
5.4.3 X 控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。
5.4.3.1 X 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：
5.4.3.2 R 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：
5.4.3.3 X－R控制图的系数表
N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 D2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 D3 0.08 0.14 0.18 0.22 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78
5.5 P 控制图的使用方法
P 控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的。
5.5.1决定样本数
5.5.1.1 使用P控制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适当，样本数的决定公式为：
5.5.1.2 若未决定样本数，导致控制下限小于0，则下限取0。
5.5.2 控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代
入。
5.5.3 P 控制图之中心线及控制上、下限的计算公式：
5.6 制程能力指数 Cpk 使用规划
5.6.1 工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的制
程或工序并明确相应的Cpk值。
5.6.2 制程能力指数
5.6.1.1 使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数
（变异）状况，以确实掌握制程品质特性。
5.6.1.2 Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。
衡量等级 Cpk值 Cpk等级 不良率(P) 相 应 措 施 A 2.0(含以上) ≥6 P≤0.000000002 本公司的优势，需要时配合控制图控制。 B 1.67~2.0 ≥5 P≤0.00000057 希望制程能够达到的水准，应考虑配合控制图进行控制 C 1.33~1.67 ≥4 P≤0.00006 产品可免检，但应考虑配合控制图控制。 D 1.0~1.33 ≥3 P≤0.0027 制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品 E 0.67~1.0 ≥2 P≤0.0455 制程应进行专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程。 F 0.33~0.67 ＜2 P≥0.3174 制程很差，应考虑实施全检
5.6.3 制程能力指数运用的前提
5.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求。
5.6.3.2 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。
5.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措
施即可。
5.6.4 制程能力指数的计算
5.6.4.1 符号说明
USL：表示规格上限。
LSL：表示规格下限。
X ：表示所搜集或抽样资料的平均。
σ ：表示自所搜集或抽样资料中所推算(估计)的标准差。
5.6.4.2 制程能力指数计算公式
Cpk：相对于规格同时表示制程集中与变异的指数。
5.6.4.3 标准差计算公式
δ=R/d2
R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数
5.6.5 制程能力指数异常的处理当制程能力指数低于客户要求时，责任部门应采取措施
以改善，必要时应以《纠正/预防措施要求书》的形式提出改善
6．附件
6.1 X-R控制图图纸样式
6.2 P控制图图纸样式
|
|
