论文链接: /10.1016/j.cej.2023.141559 图1 SnO2QDs和QDs样品的TEM和HRTEM图像。 图2 制备SnO2 QDs-TQDs静电自组装材料的机理图。 图3 (a) 用于EDS分析的SnO2 QDs-TQDs薄膜SEM图像。(b)对应元素的EDS图像:(c) Sn, (d) O, (e) C, (f) Ti的元素映射图像。(g) 静电自组装SnO2 QDs-TQDs样品的TEM图像。(h) g的HRTEM图像。 图4 (a) PSC的器件结构(ETL是原始SnO2 ETL或静电自组装SnO2 QDs-TQDs复合型ETL其中的一种;钙钛矿是原始钙钛矿或以TQDs为添加剂的钙钛矿其中的一种。(b)优化装置截面SEM图像。FTO表面(c)、覆盖FTO表面的SnO2 QDs-TQDs (d) 、SnO2ETL(e)、SnO2 QDs-TQDs ETL (f) 上的钙钛矿层SEM形貌图像。 图5 (a) SnO2和(b) SnO2QDs-TQDs薄膜的润湿角。SnO2和SnO2 QDs-TQDs ETLs的紫外-可见吸收光谱(c)和透射光谱(d)。(e) SnO2 QDs-TQDs ETL抗反射机理图。 图6 (a)稳态PL谱。(b) TRPL光谱。(c)使用SnO2和SnO2 QDs-TQDs ETLs PSCs的EIS Nyquist图。(d) SCLC分析。 图7 (a)工作装置的能带图。(b)使用SnO2 ETL(样品A)、SnO2 QDs-TQDs ETL(样品b)和钙钛矿- TQDs活性层(样品C)的PSCs的J-V曲线。(c)装置在室温大气中的稳定性。(d)装置的光稳定性。 图8 (a)时变光信号输入时最优器件的瞬态输出电流。(b)最优设备的响应速度。 |
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