文章来源:万向一二三股份公司
电芯内部存在短路是引起锂离子电池安全问题的原因之一。针对电池内部短路风险,绝缘耐电压(Hi-pot)测试是一项重要的质量检测筛选手段,广泛应用于锂离子电池生产制造过程中,具有十分重要的作用。
1实验 1.1实验设备及原理实验采用HIOKI5520绝缘电阻测试仪(日本产)。测试开始时,测试仪给裸电芯施加一个电压,该电压持续一段规定的时间后,检测器检测漏电流的电流值并转化为绝缘阻值,根据绝缘阻值是否在设定规定范围内,判断裸电芯正负极之间有无短路。一般测试过程中施加电压的流程见图1。
在一定时间t1内,对裸电芯从0开始加电压,至设定值U;电压U保持一段时间至t2;测试完成,切断测试电压,裸电芯正负极形成的杂散电容短接放电。
不同延迟时间:当前所使用的测试设备升压到设置电压U的时间t1为0.5s,延迟时间设置的一般要求需要大于该升压时间,t2为测试时间。为避免测试时间过短对不同延迟时间测试结果的影响,测试时间采用相对充足的10.5s,然后采用1~10s的延迟时间进行测试。测试压力为200N,测试电压为250V。
从图2可知,方式1重复测试,随测试次数的增加,结果逐渐增大,8次连续测试后,结果趋于相对稳定;方式2重复测试,结果相对稳定。这是因为:正极/隔膜/负极构成的杂散电容在测试时进行了充电,测试后,若不进行正负极短接,仍会残留电量;重复测试时,因极化导致的极化电流减小,测得的结果绝缘阻值会变大;正负极短接后,可以放掉首次测试时充入的电量,因此测试结果相对稳定。将电芯放置更长时间让其缓慢放电,也可以使重复测试结果保持相对稳定。
从图3可知,在固定的10.5s测试时间条件下,延迟时间从1s增加到10s,耐电压绝缘阻值基本保持稳定,延迟时间对测试结果影响较小。为验证测试时间对Hi-pot测试结果的影响,固定延迟时间为1.5s、2.5s,调整测试时间,测试结果见图4。
从图4可知,在固定的延迟时间下,随测试时间的延长,测试结果逐渐增大。这是因为:在Hi-pot测试过程中,设备检测到的电流主要包括电容电流、极化电流和漏电流等,电压达到最大值后,电容电流快速消失;剩余极化电流和漏电流,随着测试时间增加,极化电流逐渐减小,漏电流基本保持不变,绝缘阻抗结果也就随之逐渐增大。相同测试时间下不同延迟时间的绝缘阻抗见表1。
从表1可知,在相同的测试时间下,2.5s和1.5s延迟时间下的绝缘阻抗结果接近。该数据可以同样印证,延迟时间对测试结果的影响较小。
从图5可知,在测试压力为200~600N时,提升测试压力对测试结果的影响较小。
从图6可知,随着测试电压的升高,绝缘阻值呈现逐渐减小的趋势,电压升高到1000V,也未发生击穿。这说明,当前实验样品使用的隔膜耐击穿电压高于1000V。
从表2可知,当测试电压为250V时,在200N和600N的测试压力下,NG电芯检出率无明显区别。当测试压力为450N时,在250V的测试电压下,10只人为异物NG电芯检测出5只;当测试电压升高到500V和1000V时,都检测出6只。这表明,增大测试电压可以提高NG裸电芯检出率。有一定数量的添加少量金属异物的电芯无法通过Hi-pot测试检测出来,原因是:添加金属异物的颗粒大小和形貌不同,若异物颗粒过小或形貌偏片状,测试时异物对隔膜的挤压或损伤较小,无法体现出较大的漏电流。
从表3可知,测试压力由450N提高到600N,NG率变化不大;测试电压由250V提高到500V,NG率由0.13%提高到0.31%,明显增大。假设该时间段该批次电芯的异物控制水平相近,测试电压增大,NG电芯检出率明显提高,Hi-pot测试检出的NG裸电芯拆解后,在隔膜上可发现金属异物导致的击穿点。
3结论
综上所述,Hi-pot测试时间对绝缘阻值大小有影响,测试时间越长,检测出来的电流越小,测试结果越大;延迟时间对测试结果影响很小,根据实际生产来确定测试时间,建议延时时间至少为0.5s,测试时间至少为1.0s。实验对比了压力为200~600N时测试电压对结果的影响,结果显示,该压力范围内压力对测试结果的影响很小;测试电压是影响Hi-pot测试的关键因素。当电压为100~1000V时,测试绝缘阻值随测试电压的增大而减小,电压提高,可提高不良电芯的检出率,需要设定合理的电压来保证测试的有效性,但不能无限制的增大电压,否则会导致正常电芯被误判为不良品。建议测试电压以不超过隔膜本征击穿电压的50%为宜。 |
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