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产品名称
报价
0769-23032387
代理
日本西格玛光机
SGRM-200
反射率测量仪
360-800nm
0.13(使用10倍物镜时)
-2R~-∞,+2R~+∞
±0.1%(360~450nm)±0.01%(450~750nm)±0.1%(750~800nm)
1nm
经日本同事确认可以测反光杯的铝膜反射率
岱美有限公司东莞分公司
0769-89818068
0769-8981886889818864
jerryliu@dymek.com
www.dymek.com;www.dymekchina.cn
东莞市南城区鸿福路200号第一国际C座812室
光学膜厚测量仪
F20
380-1100nm
大于0.4％或2nm
0.1nm
0.07nm
20μm至1.5mm可选
1mm至300mm及更大
钨卤素灯，氚灯
基底实例
膜层实例
光滑、半透明、低吸收的膜,包括:sio2,sinx氮化硅,dlc类金刚石碳)photoresist光刻胶,polyerlayers高分子聚合物层,polymide聚酰亚胺,polysilicon多晶硅,amorphoussilicon非晶硅
www.lesoondev.com
3万多—4万美金左右
不含税单价38万到40万RMB,不含现场安装调试相关人员培训等费用
深圳市三利化学品有限公司
0755-2875921828759478
0755-28759311
6237726@qq.com
www.sanlichem.com
紫外可见光谱反射仪
SP-1702
许经理/王工
52350元含17%增值税及运费
±1nm(带宽4nm)
±0.002（500nm处，预热半小时后）0.5%T(0-100.0%T)
美国菲乐股份有限公司FILMETRICS
李学龙（Mr.）工程师
0769-23032397
xl_li@lesoondev.com
东莞市道滘镇大备湾昌平工业区丽人梦工业园
深圳市布吉布龙路万隆苑D栋68-69号
测定波长
样品侧N.A
测量光斑
样品曲率半径
再现性
精度
稳定性
波长0.3nm光度0.3%T
光源
备注
LesoonDevelopment(HK)LTD利信发展(香港)有限公司驻华南办事处
反射率精度:0.5%F(0-100.0%F)(相对反射)。基线平直度;±0.004A(200-1000nm，预热半小时后)。反射角度可调范围8°~90.0°。反射角准确度±0.5°杂散光≤0.3%T。?
奥林巴斯(中国)有限公司广州分公司
梁建
020-61227171351
020-61227178
Jian_Liang@olympus.com.cn
广州市环市东路403号广州国际电子大厦15楼镜片测定仪部
RMB615000(含PC价，可选英、日文版，下单须注明)
镜片反射率测定仪
USPM-RuⅢ
380~780nm
-1R～-∞、+1R～∞
1nm
卤灯12V100W
本体：约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源：约3kg、控制器：约8kg本体：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm
日本奥林巴斯
www.olympus.com.cn
JerryLiu/刘景洪
190-1100nm（考核200.0~1100.0nm）
0.12(用10×对物镜时)
0.24(用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同
φ50μm(用10倍物镜)
≤±0.1%(2σ)(380nm～410nm测定时),≤±0.01%(2σ)(410nm～700nm测定时)
测定参数设定,保存环境文档、可读取,分光反射率测定,设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据),取样时间设定,判定是否合格,波长方向刻度,物体颜色测定,ＸＹ色度图、Lab色度图,标准光源设定(A、B、C、D65),视野设定(2°视野、10°视野),膜厚(单层膜)测定,镀膜材料折射率
厚度测量，多数情况要求只是一块光滑、反射的基底。光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括:silicon(硅)glass(玻璃)aluminum(铝)gaas(砷化镓)steel(钢)polycarbonate(聚碳酸脂)polymerfilms(高分子聚合物膜)
经同事确认，可以测铝膜反射率。我们提供样品免费测量服务。
确认可以测铝膜反射率。100%预付，奥林巴斯负责报关
咨询是否可以测铝膜反射率，尚未答复
外形尺寸：W230D460H530
只测厚度15nm~100μm,测厚度,n&k:100nmup
测定时间:数秒～十数秒
探测器:1250-元素硅阵列
测试
外形尺寸400×700×330mm.光学测量工作站软件控制，反射角度可在22.5-90o范围内任意可调，360o范围内任意设置样品被测角度，以满足不同形状元件的测量透射率、反射率的要求。
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