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反射率测量仪器
2012-11-05 | 阅:  转:  |  分享 
  
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型号

产品名称

报价

0769-23032387

代理

日本西格玛光机

SGRM-200

反射率测量仪

360-800nm

0.13(使用10倍物镜时)

-2R~-∞,+2R~+∞

±0.1%(360~450nm)±0.01%(450~750nm)±0.1%(750~800nm)

1nm

经日本同事确认可以测反光杯的铝膜反射率

岱美有限公司东莞分公司

0769-89818068

0769-8981886889818864

jerryliu@dymek.com

www.dymek.com;www.dymekchina.cn

东莞市南城区鸿福路200号第一国际C座812室

光学膜厚测量仪

F20

380-1100nm

大于0.4%或2nm

0.1nm

0.07nm

20μm至1.5mm可选

1mm至300mm及更大

钨卤素灯,氚灯

基底实例

膜层实例

光滑、半透明、低吸收的膜,包括:sio2,sinx氮化硅,dlc类金刚石碳)photoresist光刻胶,polyerlayers高分子聚合物层,polymide聚酰亚胺,polysilicon多晶硅,amorphoussilicon非晶硅

www.lesoondev.com

3万多—4万美金左右

不含税单价38万到40万RMB,不含现场安装调试相关人员培训等费用

深圳市三利化学品有限公司

0755-2875921828759478

0755-28759311

6237726@qq.com

www.sanlichem.com

紫外可见光谱反射仪

SP-1702

许经理/王工

52350元含17%增值税及运费

±1nm(带宽4nm)

±0.002(500nm处,预热半小时后)0.5%T(0-100.0%T)

美国菲乐股份有限公司FILMETRICS

李学龙(Mr.)工程师

0769-23032397

xl_li@lesoondev.com

东莞市道滘镇大备湾昌平工业区丽人梦工业园

深圳市布吉布龙路万隆苑D栋68-69号

测定波长

样品侧N.A

测量光斑

样品曲率半径

再现性

精度

稳定性

波长0.3nm光度0.3%T

光源

备注

LesoonDevelopment(HK)LTD利信发展(香港)有限公司驻华南办事处

反射率精度:0.5%F(0-100.0%F)(相对反射)。基线平直度;±0.004A(200-1000nm,预热半小时后)。反射角度可调范围8°~90.0°。反射角准确度±0.5°杂散光≤0.3%T。?

奥林巴斯(中国)有限公司广州分公司

梁建

020-61227171351

020-61227178

Jian_Liang@olympus.com.cn

广州市环市东路403号广州国际电子大厦15楼镜片测定仪部

RMB615000(含PC价,可选英、日文版,下单须注明)

镜片反射率测定仪

USPM-RuⅢ

380~780nm

-1R~-∞、+1R~∞

1nm

卤灯12V100W

本体:约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源:约3kg、控制器:约8kg本体:300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源:150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm

日本奥林巴斯

www.olympus.com.cn

JerryLiu/刘景洪

190-1100nm(考核200.0~1100.0nm)

0.12(用10×对物镜时)
0.24(用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同

φ50μm(用10倍物镜)

≤±0.1%(2σ)(380nm~410nm测定时),≤±0.01%(2σ)(410nm~700nm测定时)

测定参数设定,保存环境文档、可读取,分光反射率测定,设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据),取样时间设定,判定是否合格,波长方向刻度,物体颜色测定,XY色度图、Lab色度图,标准光源设定(A、B、C、D65),视野设定(2°视野、10°视野),膜厚(单层膜)测定,镀膜材料折射率

厚度测量,多数情况要求只是一块光滑、反射的基底。光学常数测量,需要一块平整的镜面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要进行处理使之不能反射。包括:silicon(硅)glass(玻璃)aluminum(铝)gaas(砷化镓)steel(钢)polycarbonate(聚碳酸脂)polymerfilms(高分子聚合物膜)

经同事确认,可以测铝膜反射率。我们提供样品免费测量服务。

确认可以测铝膜反射率。100%预付,奥林巴斯负责报关

咨询是否可以测铝膜反射率,尚未答复

外形尺寸:W230D460H530

只测厚度15nm~100μm,测厚度,n&k:100nmup

测定时间:数秒~十数秒

探测器:1250-元素硅阵列

测试

外形尺寸400×700×330mm.光学测量工作站软件控制,反射角度可在22.5-90o范围内任意可调,360o范围内任意设置样品被测角度,以满足不同形状元件的测量透射率、反射率的要求。

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(本文系一叶舟一本...首藏)