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多晶硅太阳电池扩散工艺影响因素分析
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2012.12Vol.36No.12

研究与设计

收稿日期:2012-05-17

基金项目:国家自然科学基金资助项目(51164033);国家自然科

学基金资助项目(51162025);江西省自然科学基金资助项目

(2010GQC0178);江西省教育厅科技项目(GJ12653);新余学院校级

招标项目(xj0901)

作者简介:刘丹娟(1979—),女,湖南省人,讲师,硕士,主要研究

方向为微电子与光电子技术。

1830

多晶硅太阳电池扩散工艺影响因素分析

刘丹娟

1,2

,何伟

1,2

(1.新余学院,江西新余338004;2.江西省高等学校硅材料重点实验室,江西新余338004)

摘要:工业生产中普遍采用液态三氯氧磷(POCl

3

)作为多晶硅太阳电池的扩散磷源。研究了各种工艺参数对扩散方块电

阻的大小及均匀性的影响。结果表明:提高扩散温度、增加主扩散时间、减小再分布时间、增加小氮流量、减小大氮流量,

可以减小方块电阻;合理设置炉管内的温度分布、适当增加大氮流量,可以改善方块电阻的均匀性;氧气流量对方块电

阻影响不大。得到了一组优化的扩散工艺参数,测得方块电阻为55.1Ω/□,片内极差为5.6%,片间极差为3.1%。

关键词:太阳电池;扩散;方块电阻;均匀性

中图分类号:TM914.4文献标识码:A文章编号:1002-087X(2012)12-1830-03

Influencefactorsindiffusiontechnologyofmulticrystalline

siliconsolarcells

LIUDan-juan

1,2

,HEWei

1,2

(1.XinyuUniversity,XinyuJiangxi338004,China;

2.KeyLaboratoryofJiangxiUniversityforSiliconMaterials,XinyuJiangxi338004,China)

Abstract:LiquidPOCl

3

isgenerallyadoptedinindustrialproductionasdiffusionphosphorussource.Theeffectsof

varioustechnologyparametersonthevalueanduniformityofdiffusionsquareresistancewereinvestigatedinthis

paper.Theresultsshowthatthevalueofdiffusionsquareresistancecanbedecreasedbyenhancingdiffusion

temperature,increasingmaindiffusiontime,reducingre-distributiontime,increasingcarriergasflow,andreducing

nitrogenflow;theuniformityofdiffusionsquareresistancecanbeimprovedbysettingreasonabletemperature

distributionandappropriatelyincreasingnitrogenflow;theeffectofoxygenflowonsquareresistanceisnegligible.A

setofoptimaldiffusiontechnologyparameterswereobtained.Undertheoptimalconditions,thevalueofsquare

resistanceis55.1Ω/□;therangeonawaferis5.6%;therangeamongwafersis3.1%.

Keywords:solarcells;diffusion;squareresistance;uniformity

随着世界经济的快速发展,人类对能源的需求量正在不

断增长。21世纪以来,以煤炭、石油和天然气为代表的传统能

源濒临枯竭,全球范围内的能源危机日益突出。寻找廉价、无

污染、可再生的替代能源已经成为世界各国面对的共同课题。

在2009年的哥本哈根会议上,我国承诺到2020年,单位

国内生产总值CO

2

排放较2005年下降40%~50%,非化石能

源占一次能源的消费比重达到15%左右。为此,我国正在加紧

起草《关于发展低碳经济国家的方案和行动路线图》。据初步

预测,到2050年我国太阳能、核能和风能等新能源将取代煤

炭、石油和天然气等传统能源,成为我国能源消费的主体

[1]



太阳能具有分布范围广、数量巨大、无污染、安全性高等

一系列优点,是最具开发潜力的新能源。目前太阳电池产业化

主要以硅太阳电池为主体,其市场份额超过90%,其中多晶硅

太阳电池因其高性价比而达到了55%左右的市场份额;但目

前尚存在一些问题,光电转换效率不高,发电成本是传统能源

的2~3倍

[2]

。在不增加多晶硅太阳电池制作工艺的前提下,提

高转换效率,可以有效地降低其发电成本。目前工业生产中主

要通过以下两种方法提高多晶硅太阳电池的转换效率:通过

制作绒面和沉积减反射膜以提高入射光的吸收率;通过优化

扩散工艺、丝网印刷工艺和烧结工艺,制作性能优良的PN结。

扩散工艺是制作PN结最核心的工序,本文主要研究多晶硅太

阳电池扩散工艺的影响因素。

1基本原理

目前工业生产中普遍采用掺硼的P型硅片作为衬底,通

过表面扩散磷得到N型重掺杂层,在交界面处形成PN结。普

遍采用液态三氯氧磷(POCl

3

)作为磷源,氮气作为运载气体将

POCl

3

带入扩散炉石英管中,发生的化学反应如下。

5POCl

3

襒3PCl

5

+P

2

O

5

(1)

4PCl

5

+5O

2

襒2P

2

O

5

+10Cl

2

(2)

2P

2

O

5

+5Si襒4P+5SiO

2

(3)

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POCl

3

热分解时,如果没有O

2

参与,其分解是不充分的,生

成的PCl

5

是不易分解的,并且对硅有腐蚀作用,破坏硅片的表

面状态。但在有O

2

存在的情况下,PCl

5

会进一步分解成P

2

O

5

和Cl

2

,生成的P

2

O

5

又进一步与硅反应,生成SiO

2

和磷原子,

并在硅片表面形成一层磷硅玻璃,然后磷原子再向硅中扩散,

满足Fick第二定律

[3]

。Fick第二定律的一维形式如式(4)所示。

(4)

式中:C为杂质浓度;D为扩散系数,与温度的关系如式(5)所

示。

D=D

0

exp(-E/RT)(5)

式中:D

0

、R为常数;E为扩散激活能;T为绝对温度。

由式(5)可知,扩散系数随温度升高而增大。

根据边界条件不同,扩散分为:恒定表面杂质浓度扩散,

满足余误差函数分布;恒定杂质总量扩散,满足高斯分布

[4]



扩散之后,硅片表面方块电阻R



的计算公式,如式(6)所

示。

(6)

式中:r为扩散层平均电阻率;x

j

为扩散层厚度(结深);Q为单

位面积扩散层内的掺杂剂总量;m为扩散层内载流子平均迁移



[5]



由式(6)可知,方块电阻与单位面积扩散层内的掺杂剂总

量Q、扩散层厚度x

j

成反比。

2实验

2.1实验材料与设备

实验中采用赛维LDK公司生产的156mm×156mmP型

多晶硅片,其电阻率为1Ω·cm;扩散设备采用中国电子科技

集团公司第四十八研究所研制的M5112-3W高温闭管软着陆

式扩散炉;方块电阻测量采用广州市昆德科技有限公司生产

的KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪。

2.2实验方案

为了确保太阳电池生产线工艺稳定,对于扩散工序而言,

关键在于保障方块电阻的稳定性和均匀性。方块电阻的大小

反映了扩散进入硅片的杂质总量和扩散深度;其均匀性反映

了PN结结深的差异,均匀性越好,则结深一致性越好,后续工

艺参数可控性越高,可以更好地保证电池性能和参数的稳定

性。大规模工业生产中,为了提高光生载流子的收集效率,一

般扩散结深为0.5μm左右,对应的方块电阻为50Ω/□左右,

而片内极差和片间极差要求在10%以内

[3]



扩散工艺主要由放舟、恒温、氧化、主扩散、再分布、取舟

等工艺步骤组成。原始扩散工艺参数,如表1所示,从炉尾到

炉口分别为温区一至温区五,并且五个温区的温度设定为相

同温度,小氮指携带磷源的氮气流量,大氮指保护气体———氮

气的流量,时间指各工艺步骤所用的时间。为保证炉管内气流

稳定,整个工艺过程中,总的气体流量保持不变。

影响扩散方块电阻的主要参数包括扩散温度场、主扩散

时间、再分布时间、小氮流量、大氮流量、氧气流量。

3实验结果与分析

3.1原始实验结果与分析

每炉装载400片硅片,从炉尾到炉口依次取6片硅片,每

片硅片的4个顶点和中心各取1个点,分别测量其方块电阻,

然后计算平均值、片内极差和片间极差。原始工艺条件下的扩

散方块电阻,如表2所示。

c1

CC

D

t

x

?

?

=

??

1

c1

R

xQx

r

m

==

G1G1G2G2G2G2G3G4G5G6G7G8G9G2

G1G2G3G4G5G6/sG7G8/G9

GAGB/

(mLGB7min

c1

)G20

GCGB/G20

(mLGB7min

c1

)G20

GDGE/G20

(mLGB7min

c1

)G20

GFG10G20600G20842G200G2025G20000G200G20

G11G7G201G20800G20842G200G2025G20000G200G20

GDG12G20120G20842G200G2023G20750G201G20250G20

G13G14G15G201G20500G20842G201G20500G2022G20250G201G20250G20

G16G17G18G20300G20842G200G2023G20750G201G20250G20

G19G10G20540G20842G200G2025G20000G200G20

G2

G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G1G2G1G1G1G2G3G4G5G6G7G8G9GAGBGCGDGERc1c1c1G3G1

G1G2G3G4G5G6G7G5G6G8G5G6G9G5G6GAGBGCG6G2GDGEGFG10GEGFG2GDG11G12/%G2GDG11G12GFG13/%G2G14G11G12/%

G1553.452.754.856.858.755.310.8

G16G1754.655.353.652.156.854.58.6

G18G1755.156.352.453.858.755.311.4

G19G1756.858.159.758.659.758.64.9

G1AG1758.459.657.659.960.159.14.2

G1BG1759.460.760.357.962.360.1



57.2





7.3

7.9





9.8





G1





由表2可以看出:

(1)从炉尾到炉口,片内平均方块电阻逐渐增大,片间极差

为9.8%,其原因在于扩散气体从炉尾充入石英管,因而扩散气

体浓度从炉尾到炉口浓度逐渐减小。

(2)从炉尾到炉口,片内极差变化没有明显的规律,这可能

是由于炉管内气体形成了紊流。

在原始扩散工艺参数表1的基础上,依次修改其中一个

工艺参数,而保持其他工艺参数不变,研究方块电阻大小或均

匀性的变化规律。

3.2扩散温度对扩散方块电阻的影响

(1)炉管中五个温区的温度设定为相同温度,并且温度升

高2℃,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值由57.2

Ω/□减小为56.5Ω/□。方块电阻随扩散温度升高而减小,这是

因为温度越高,磷原子的扩散系数越大,因而扩散进入硅片表

面的磷原子越多,由式(6)可知方块电阻越小。

(2)温区四与温区五温度升高2℃,而温区一至温区三的

温度不变,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其片间极差由9.8%减小为

3.3%,片间均匀性得到了明显的改善,其原因在于温区四与温

区五靠近炉门,扩散气体浓度较低,但扩散温度较高,二者对

扩散方块电阻的影响正好抵消。

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3.3主扩散时间对扩散方块电阻的影响

主扩散时间增加180s,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值由57.2

Ω/□减小为56.7Ω/□。方块电阻随主扩散时间增大而减小,这

是因为在恒定表面杂质浓度条件下,主扩散时间越长,扩散进

入硅片表面的磷原子越多,由式(6)可知方块电阻越小。

3.4再分布时间对扩散方块电阻的影响

再分布时间增加150s,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值由57.2

Ω/□减小为56.5Ω/□。方块电阻随再分布时间增大而减小,这

是因为在恒定杂质总量条件下,再分布时间越长,扩散进入硅

片表面的磷原子总量不变,而扩散层厚度(结深)增大,由式(6)

可知方块电阻越小。

3.5小氮流量对扩散方块电阻的影响

小氮流量增加200mL/min,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值由57.2

Ω/□减小为55.2Ω/□。方块电阻随小氮流量增大而减小,这是

因为小氮流量越大,进入炉管内的杂质浓度越大,扩散进入硅

片表面的磷原子越多,由式(6)可知方块电阻越小。

3.6大氮流量对扩散方块电阻的影响

(1)大氮流量增加3000mL/min,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值由57.2

Ω/□增大为64.7Ω/□。方块电阻随大氮流量增大而增大,这是

因为增加大氮流量,增强了炉管中气体流速,使得炉管内的杂

质浓度降低,扩散进入硅片表面的磷原子减少,由式(6)可知方

块电阻增大。

由于炉管内气压增大,增强了炉管内杂质扩散,其浓度更

为均匀,因而片内极差均值从7.9%下降至5.8%,片间极差从

9.8%下降至9.1%,方块电阻的均匀性得到改善。

(2)大氮流量继续增加4000mL/min,其他参数不变。

测得其方块电阻总平均值由64.7Ω/□增大为65.2Ω/□;

片内极差均值由5.8%增大为9.47%,片间极差由9.1%增大为

10.59%,方块电阻的均匀性变差,这可能是由于炉管内气体流

速流量过大而产生了紊流,因此大氮流量要保持在合适的范

围内。

3.7氧气流量对扩散方块电阻的影响

氧气流量减小250mL/min,其他参数不变。

与原始扩散工艺相比,测得其方块电阻总平均值、片内极

差和片间极差基本不变。只要氧气流量保证反应方程式(2)中

PCl

5

反应充分,对扩散方块电阻影响不大。

3.8优化工艺条件下的实验结果

优化的扩散工艺参数,如表3所示。

优化工艺条件与原始工艺条件下实验结果对比,如表4

所示。由表4可知,与原始工艺条件相比,通过优化工艺参数,

扩散方块电阻总平均值减小为55.1Ω/□,其片内极差和片间

极差明显降低了,均匀性得到了很好的改善。

4结论

通过研究工业生产中多晶硅太阳电池扩散工艺的各种影

响因素,得到了扩散温度场、主扩散时间、再分布时间、小氮流

量、大氮流量、氧气流量对扩散方块电阻大小及其均匀性的影

响规律。通过优化扩散工艺条件,测得扩散方块电阻为

55.1Ω/□,片内极差为5.6%,片间极差为3.1%,均匀性得到明

显改善,完全能够满足大规模工业生产的要求。

参考文献:

[1]梁昌鑫,陈孝祺.太阳能电池现状及其发展前景[J].上海电机学

院学报,2010,13(3):182-186.

[2杨德仁.太阳能电池材料[M].北京:化学工业出版社,2006:

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[3]沈辉,曾祖勤.太阳能光伏发电技术[M].北京:化学工业出版社,

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[4]石德珂.材料科学基础[M].2版.北京:机械工业出版社,2003:

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[5]何堂贵.晶体硅太阳电池制作中的扩散工艺研究[D].成都:电子

科技大学,2009:21-22.

G1G1G2G2G2G2G2G3G4G5G6G7G8G9G2

G1G2G3G4G5G6/sG7G8G9GAG7G8GBG7GC/GDG7G8GEGFG7G8G10G7GC/GDG11G12/(mLGB7min

c1

)G20G13G12/(mLGB7min

c1

)G20G14G15/(mLGB7min

c1

)G20

G16G17G20600G20844G20842G200G2030G20000G200G20

G18G7G201G20800G20844G20842G200G2030G20000G200G20

G14G19G20120G20844G20842G200G2029G20000G201G20000G20

G1AG1BG1CG201G20500G20844G20842G201G20700G2027G20300G201G20000G20

G1DG1EG1FG20300G20844G20842G200G2029G20000G201G20000G20

G20G17G20540G20844G20842G200G2030G20000G200G20

G2

G1G1G2G2G2G3G4G5G6G7G8G9GAG4G5G6G7GBGCGDGEGFG10G11G2

G1G2G3G4G5/(G6G7G12G12

c1c2

)G8G9GAGBG5GC/%G8GDGAGB/%

GEGFG10G11G12G1357.27.99.8

G14G15G10G11G12G1355.15.63.1

G2



□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□















□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□□















本书从系统工程、系统设计角度而非深奥的电化学、热力学理论角度,结合实际案例,介绍了燃料电池的基

本概念、系统组成和系统分类,描述了燃料电池涉及的主要基础理论知识和关键技术,从工程应用角度说明了燃

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《燃料电池设计与制造》

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