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晶硅太阳能单晶电池EL缺陷分析研究。【摘要】重点分析研究晶硅太阳能单晶太阳电池EL常见缺陷原因，电池片EL常见缺陷主要分为原材料类导致的缺陷及过程引入缺陷类。随着晶硅太阳能单晶电池EL质量要求越来越高，提升晶硅太阳能单晶电池EL质量变得尤为重要。通过对单晶电池EL缺陷成因分析研究，可进一步改善电池片EL缺陷现象，实现晶硅电池质量提... 阅498 转7 评0 公众公开 18-07-14 23:31 |
PERC电池EL暗片研究。摘要：介绍了一种通过调整背钝化工艺改善多晶硅背钝化电池缺陷的方法。采用背钝化新型电池片工艺，在正常生产过程中EL会呈现有规律的区域发暗，严重影响电池片性能。本文通过优化PECVD工艺时间和退火温度，使电池片EL区域发暗得到解决，同时还提升了电池片效率。浙江正泰太阳能科技有限公司。来源：太阳能杂志。 阅1385 转8 评1 公众公开 18-07-14 20:32 |
EL测试常见缺陷分析。通过对EL测试图像分析可以及时清晰的发现晶硅电池及组件内部存在的隐性缺陷，这些缺陷包括硅材料缺陷（位错、层错、参杂异常）、扩散缺陷（方阻不均匀）、印刷缺陷（断栅、虚印）、烧结缺陷（履带印）、工艺污染以及组件封装过程中的隐形裂纹等。此种材料缺陷势必导致晶硅电池的缺陷部分少子寿命小，从而导致电池片中有此... 阅1617 转2 评0 公众公开 18-07-06 22:10 |
对于选中的两片黑斑电池片，分别在同一黑斑电池片中央截取面积为2cm×2cm的两个小样片，其中一个是含有黑斑的样片。图5为正常电池片与黑斑电池片的外量子效率图，图6为19．37％黑斑小样片与正常小样片的外量子效率对比图。外量子效率与电池的活性层对光子利用率以及光的反射、透射等有关，由于黑斑样片和正常样片同是截取于19．37％的黑斑... 阅110 转1 评0 公众公开 18-06-20 22:51 |
缺陷，是对于晶体的周期性对称的破坏，使得实际的晶体偏离了理想晶体的晶体结构。点缺陷包括热点缺陷（本征点缺陷）和杂质点缺陷（非本征点缺陷）。1.2杂质点缺陷。一个空位和一个间隙原子结合使空位和间隙原子同时湮灭（复合），两个空位形成双空位或空位团，间隙原子聚成团，热点缺陷和杂质点缺陷相互作用形成复杂的点缺陷复合体等。控制CZ硅... 阅285 转0 评0 公众公开 18-06-12 16:18 |
对于选中的两片黑斑电池片，分别在同一黑斑电池片中央截取面积为2cm×2cm的两个小样片，其中一个是含有黑斑的样片。图5为正常电池片与黑斑电池片的外量子效率图，图6为19．37％黑斑小样片与正常小样片的外量子效率对比图。外量子效率与电池的活性层对光子利用率以及光的反射、透射等有关，由于黑斑样片和正常样片同是截取于19．37％的黑斑... 阅81 转1 评0 公众公开 18-05-23 22:04 |
【摘要】重点分析研究晶硅太阳能单晶太阳电池EL常见缺陷原因，电池片EL常见缺陷主要分为原材料类导致的缺陷及过程引入缺陷类。本文介绍了目前常见的主流晶硅单晶电池的EL缺陷原因，且生产过程中方阻均匀性、及温度的控温精度对云雾片存在严重影响，可通过增加方阻、烧结温度的均匀性进一步改善此类EL云雾片缺陷，洁净度同样对电池片EL点状确认... 阅2835 转8 评0 公众公开 18-05-19 20:57 |
光伏组件EL测试亮斑原因分析。网友提问：组件EL测试出现亮斑是什么原因？最初，组件亮斑较轻，但组件在安装运行一段时间后，亮斑加重，并且功率衰减严重。亮斑会越来越亮，组件本身运行是个过程，电流运行肯定是哪里电阻小就从哪里流出，运行初期没找到电阻低的地方，就不是很亮，发亮区域既然漏电，那相对电阻低，电流都会向这一区域集[工业电... 阅75 转0 评0 公众公开 18-05-13 09:30 |
其中，1#为无明显缺陷的组件，2#、3#为有隐裂缺陷的组件、4#为有断栅缺陷的组件、5#为有黑片缺陷的组件、6#为有碎片缺陷的组件。由表1可知，1#组件功率最高，最接近组件的额定功率；对比表1中的2#、6#与1#组件的性能参数可知，6#组件比2#组件功率低7W左右，短路电流和开路电压对比发现相差并不大，而并联电阻相差较大，所以推测组件功率的明显... 阅2833 转21 评0 公众公开 18-04-17 22:43 |
