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第五章 測試 1. 測試視窗說明 1.1. 測試程序 1.2. 測試時間統計 1.3. 系統測試狀態及測試結果 1.4. 測試資料統計 1.5. 附屬功能 2. 不良報告解讀 一般使用者的操作過程中，最常使用的就是測試功能。 1. 測試視窗說明
選擇<測試>、<ICT測試>，顯示以下測試視窗。這個視窗分為五個部分，左上方的測試程序、右上方的測試時間統計、中間的測試狀態及測試結果、左下方的測試統計資料和右下方的附屬功能。
1.1. 測試程序
顯示待測電路板名稱、測試順序和總測試步驟。測試順序包含開路測試、短路測試、IC開路測試與零件測試等四個部份。在此可顯示我們設定那些部分要列入測試程序中，本項可在 <編輯>、<測試參數>內修改。總測試步驟是待測板所有的零件測試步驟。 1.2. 測試時間統計
顯示測試次數、總測試時間及本次測試時間。另外也顯示刪略、實際和不良測試步驟。 1.3. 系統測試狀態及測試結果
本區域左上方顯示測試狀態 ， 主要分為： 1. 準備開始測試 ：系統待命中。同時按下壓床之 TEST 和 DOWN 按鈕或 RETEST 和 DOWN按鈕可進行電路板測試。 2. 開路不良：電路板開路測試不良。 3. 短路不良：電路板短路測試不良。 4. 零件不良：電路板零件測試不良。 5. IC零件不良：IC零件測試不良。 6. 良品：電路板為良品。 7. 操作員中斷測試。 當系統測試狀態為 “準備開始測試” 時，使用者可以同時按下壓床上的TEST 與 DOWN 按鈕或是 RETEST 與 DOWN 按鈕，即可進行電路板的測試。系統測試狀態會依目前的測試進度顯示 “開路測試” 、“短路測試” 、“ IC 開路測試” 和 “零件測試” 等訊息。如果測試過程中發現不良狀況，系統測試狀態會依不良狀況顯示 “開路不良” 、“短路不良” 、“ IC 開路不良” 和 “零件不良” 等訊息。 一個完整的電路板測試分為放電、開路測試、短路測試、IC開路測試與零件測試等五個部份。當測試進行完成某一部份時，本區域左邊相對應的燈號會變色。燈號初始為黃色，綠燈表示該程序測試正常，紅燈表示該程序測試不良，此時測試的結果會顯示在視窗右方。視窗中間顯示目前的測試步驟。 1.4. 測試資料統計
顯示今日的測試次數、良品次數、開路不良次數、短路不良次數和零件不良次數及其百分比。每測試一片電路板，測試統計資料會計算並顯示在此區域。 1.5. 附屬功能
1. 電路板量測(F5)：在壓床下壓的狀態下，可直接進行測試。 2. 停止量測(F6)：在測試進行中可停止電路板測試，同時壓床上升。 3. 選擇電路板(F2)：可選擇待測電路板。 4. 儲存日報表(F1)：將日報表儲存到硬碟。當使用者結束本系統時，日 報表亦會自動儲存到硬碟。 5. 列印不良零件表(F12)：列印測試不良的測試報告。當使用者於 <編 輯> 、<測試參數>內設定不自動列印不良零件報表時，可在測試結 束後按 “F12” 列印不良零件表。 6. 列印日報表(F3)：將日報表列印出來。 7. 顯示不良零件表：測試結束後顯示不良零件的資料。在此視窗中可 以設定顯示的類別：全部、零件、IC二極體、IC空銲和高壓。 8. 編輯測試資料：進入編輯器，可在此編輯測試資料。 9. 顯示開/短路不良表：測試結束後顯示開/短路不良的資料。 10. 顯示不良零件位置圖：將電路板的橫面分為最多 A-H 共 8 行，縱 面分為最多1-8 共 8 列。螢幕上顯示不良零件在電路板上的對應位 置，以利維修。每個電路板行列數在<編輯> 、<測試參數>內設定。
以上圖為例，不良零件位置圖分為 A1和 B1兩區域。在 A1區域內有 一個零件 “R50_6” 不良；在 B1區域內有兩個零件 “R50_5” 和 “R100_1” 不良。在任何一個區域內按滑鼠兩下可統計這個區域不良 的零件數並顯示於視窗右上角。<顯示不良零件表>可顯示不良零件 的詳細測試資料。 11.檢視電路板零件圖 (Board-View)：若電路板測試不良時可利用 Board-View 快速且便利地找出不良零件的位置；減少使用者找尋不 良零件的時間。但使用此功能需要 CAD 的檔案：PINS.ASC， NAILS.ASC 和 FORMAT.ASC。使用者可使用下列命令尋找特定零 件及測試針位置。 #(Nail-No.)：找尋測試點號 Comp.Name：鍵入零件名稱即可找到尋找零件的位置 欲結束測試工作時，可選擇螢幕右上方的<離開>。 2. 不良報告解讀
測試不良時，印表機列印不良報告，提供維修人員參考資料。舉例如下：
Board: debugbox JAN 21 12:19:03 1998 待測板的名稱為debugbox 測試時間 : 1998/1/21 12:19:03 Bar Code NO.: AB1234567890 待測板的條碼為AB1234567890 Test NO. : 17 待測板的測試編號是17 ************* Open Fail *********** 開路不良 <5> <4 5 11> Pin 5對其本身Short Group有 Open Fail現象 Common Pin <5 11> 共針點組5與11之間存在L1 L1 (A2 ) 零件位於A2位置 Pin <4> ---> 測試點4連接到的零件 1 A1 JFUSE 8 4 440 A1 C6/C1 4 1 Pin <5> ---> 測試點5連接到的零件 394 A2 C18 5 1 574 A1 L1 11 5 Pin <11> ---> 測試點11連接到那些零件 208 A2 RN19-3-4 11 2 574 A2 L1 11 5 A3 U22 Pin 10 A4 U34 Pin 27 ************* Short Fail ********* 短路不良 <2 8 58 557 642><4 5 11> Common Pin <2 11> 共針點組2與11之間存在有零件 U34 Pin[26, 27](A4) 零件U34(位於A4) RN19-3-4 (A2) RN19(位於A2)之3,4腳 Common Pin <8 4> 共針點組8與4之間存在有零件 JFUSE4 (A1) Pin <2> ---> 測試點2連接到的零件 5 F2 JP12-2-3 557 2 28 E2 JP8-1-2 642 2 29 E2 JP9-1-2 642 2 31 A3 JR121 58 2 54 B2 R1 117 2 56 D5 R102 385 2 Pin <8> ---> 測試點8連接到的零件 1 A1 JFUSE 8 4 578 A1 L5-1-2 2 8 Pin <58> ---> 測試點58連接到的零件 31 A3 JR121 58 2 Pin <557> ---> 測試點557連接到的零件 5 F2 JP12-2-3 557 2 F2 U17 Pin 26 Pin <642> ---> 測試點642連接到的零件 28 E2 JP8-1-2 642 2 29 E2 JP9-1-2 642 2 Pin <4> ---> 測試點4連接到的零件 1 A1 JFUSE 8 4 440 A1 C6/C1 4 1 Pin <5> ---> 測試點5連接到的零件 394 A2 C18 5 1 574 A1 L1 11 5 Pin <11> ---> 測試點11連接到的零件 208 A2 RN19-3-4 11 2 574 A2 L1 11 5 A3 U22 Pin 10 A4 U34 Pin 27 ********** Component Fail ********* 零件不良 1 R50_1 M_V:9999.99 Dev:+999.9% 測試步驟1，零件R50_1， 實際量測值為9999.99 偏移百分比為+999.9% Act_V: 50.00 Std_V: 50.00 Loc: A1 零件實際值為50.00 零件標準值為50.00，位置A1 H-Pin:1 L-Pin:2 +LM:+8% -LM:-8% 高測試點為1，低測試點為2 標準值上限百分比為+8% 標準值下限百分比為-8% 7 R100_1 M_V:9999.99 Dev:+999.9% 測試步驟7，零件R100_1， 實際量測值為9999.99 偏移百分比為+999.9% Act_V: 100.00 Std_V: 100.00 Loc: A1 零件實際值為100.00 零件標準值為100.00，位置A1 H-Pin:4 L-Pin:5 +LM:+8% -LM:-8% 高測試點為1，低測試點為2 標準值上限百分比為+8%
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