ICT518FR手册（5）

 

第六章 診斷

1. 硬體診斷

1.1. 系統自我檢測

1.2. 切換電路板診斷：

1.3. 使用維修盒診斷：

2. 單體測試：

2.1. 零件量測：

2.2. 巨集命令

3. 切換電路板規格偵測：

4. 測試針檢測：

5. IC 空焊自我診斷：

5.1. 安裝設訂顯示

5.2. 穩定度顯示

6. FUN穩定度測試

7. 外接FUN

在診斷功能表下有七個功能，包含硬體診斷、單體測試、切換電路板檢測、測試針檢測， IC 空焊自我診斷，FUN 穩定度測試和外接FUN 等功能，提供使用者執行初步的硬體檢查。

1. 硬體診斷

硬體診斷功能下有 3 個子功能，系統自我檢測、切換電路板診斷和使用維修盒診斷。

1.1. 系統自我檢測

在系統自我檢測功能下可測試量測電路板所提供的信號源是否正常，在量測電路板上有標準零件，而系統自我檢測功能即是量測這些零件並顯示量測結果。若量測結果中有任何一個項目測試不良，即系統量測電路板不良。檢測的內容包含系統電源、電阻、電容、電感、二極體、開路及短路檢測。

顯示檢測結果時，藍色 <OK> 表示正常、紅色 <FAIL> 表示不良。視窗右下角顯示檢測報告。

1.2. 切換電路板診斷：

在切換電路板診斷功能下可以執行測試系統上切換電路板的自我檢測。

                   

系統可容納 14 片切換電路板，每片切換電路板控制的測試針數目顯示在測試點數欄 (SWB.CFG.)，以上圖為例，系統包含兩塊切換電路板編號 1(128 Pins) 及編號 2 (128 Pins)。

檢測前先設定欲檢測切換電路板的啟始及結束編號。當系統的切換電路板只有編號 1 及編號 2 ，而使用者輸入欲檢測切換電路板為編號 1 至編號 3 時，因編號 3並無切換電路板， 在編號 3 的狀態欄 (Status) 顯示 N/A。當切換電路板檢測正常時，狀態欄顯示藍色 “OK”；切換電路板檢測不良時，狀態欄顯示紅色 “Bad” 並顯示切換電路板的不良測試針號碼。

執行切換電路板的自我檢測前請先執行系統自我檢測功能並確定量測電路板正常。若同時檢測多片切換電路板時，不良的切換電路板可能會影響到正常的切換電路板檢測，可以先將不良的切換電路板抽出。

1.3. 使用維修盒診斷：

當使用者在切換電路板診斷中發生自我偵測錯誤時，可再使用維修盒診斷以判斷切換電路板及量測電路板上更詳細的問題。

將維修盒以64 Pin排線接到欲檢測的切換電路板上並輸入切換電路板編號 (1-28)。切換電路板編號以64 Pin為一個單位，64Pin的切換電路板單位數為 1、128Pin的切換電路板單位數為 2。以上圖為例，系統內有一片切換電路板，設定切換電路板編號為 1 表示檢測第一片切換電路板的第一個單位(1-64Pin)；設定切換電路板編號為 2 表示檢測第一片切換電路板的第二個單位(65-128Pin)。

維修盒檢測分為開路測試、短路測試和零件測試。測試正常時檢測結果顯示“OK”，對應燈號為綠燈；測試不良時檢測結果顯示“NG”，對應燈號為紅燈。<顯示零件量測值> 顯示每個零件的量測值。<顯示失效零件量測值> 顯示每個失效零件的量測值。

如果檢測結果是開路不良、短路不良或是電阻零件不良時，其為系統的直流量測電路板故障。如果檢測結果是電容不良或電感不良時，其為系統的交流量測電路板故障。當零件不良的偏移百分比不大時，則測試系統量測電路板需要再調整，而不是量測電路板的故障。

當開路測試、短路測試與零件測試均正常，可確定該片切換電路板與所有的量測電路板均是正常的。

使用維修盒診斷前，請先確定維修盒是良好的。在系統的子目錄下，需有 DEBUGBOX的目錄，內含維修盒診斷所需要的資料檔。測試維修盒就像測試其他的電路板一樣，只是不需要治具而已。使用者也可以進入編輯功能修改每個步驟的測試資料並觀察每個零件的量測值。

2. 單體測試：

在單體測試功能下可以量測電阻、電容、電感、二極體、齊鈉二極體等單一零件，也可測試印表機。

單體測試有七個子功能，電阻量測、電容量測、電感量測、二極體量測、高壓量測、短/開路量測和巨集命令。視窗的最上方為測試功能選擇，以滑鼠左鍵點選。

2.1. 零件量測：

選擇電阻量測、電容量測、電感量測、二極體量測、高壓量測和短/開路量測時，視窗分為兩部分：量測設定和量測結果。前者可設定量測高低點並可選擇一個隔離點，零件實際值、單位和量測模式；後者以圖表和數值顯示量測結果。

2.2. 巨集命令

使用者可以輸入系統提供的巨集命令執行量測。

         

1. 電阻量測

RES/a,b,value,mode,g。a與b是治具上任何兩個測試點，value是待測零件的標準值，mode設定信號源模式，g是隔離點。例如：RES/1,2,1.0K,1,4是量測測試點1與2間一個1.0KΩ的電阻值，使用模式1(DC 50uA)信號源，並以第4測試點為隔離點。

2. 電容量測

CAP/a,b,value,mode,g。a與b是治具上任何兩個測試點，value是待測零件的標準值，mode設定信號源模式，g是隔離點。

3. 電感量測

IND/a,b,value,mode,g。a與b是治具上任何兩個測試點，value是待測零件的標準值，mode設定信號源模式，g是隔離點。

4. 二極體量測

ZEN/a,b,value,mode,g。a與b是治具上任何兩個測試點，value是待測零件的標準值，mode設定信號源模式，g是隔離點。

5. 高壓量測

HVM/a,b,value,mode,g。齊鈉二極體及電容極性的量測。a與b是治具上任何兩個測試點，value是待測零件的標準值，mode設定信號源模式，g是隔離點。

6. 印表機測試

SPR/char-string。40-COLUMN印表機的測試。印表機即時列印輸入之字串。

7. ADC值

顯示ADC 實際電壓值碼。

8. 開/短路測試

OST/a,b,dly。a與b兩個測試點的開路/短路量測。

9. 清除執行結果顯示視窗

CLEAR。

10. 巨集命令說明

HELP。

巨集指令無大小寫的限制，也可以將其儲存於檔案內供以後使用，該檔案的副檔名為 “TRI”。視窗右下角有四個檔案處理的功能，《建立》、《開啟》、《執行》和《儲存》。

2.2.1. 建立

進入編輯器，使用者可編輯巨集指令的檔案。

2.2.2. 開啟

開啟巨集指令的檔案，將該檔案內容放入命令盒，並在指令啟始處加入 “BEGIN”，指令結束處加入 “END”。

2.2.3. 執行

執行開啟的巨集指令檔案。

2.2.4. 儲存

儲存命令盒內的巨集指令。使用者可先在命令盒內輸入巨集指令，執行的結果會一步一步顯示。再將這些巨集指令儲存於檔案內供以後使用。

3. 切換電路板規格偵測：

偵測並顯示每一個插槽上切換電路板的規格。

每次開機時，系統自動執行切換電路板規格偵測並比較原有的切換電路板規格。如果兩者不同，系統自動顯示切換電路板規格偵測視窗，請使用者核對顯示的系統規格與實際的切換電路板規格是否相符。若不相符，可能是切換電路板損壞，請執行切換電路板診斷功能，以確認是否為切換電路板損壞。

檢查完成後，選擇儲存切換電路板規格並再檢測一次將現有的切換電路板規格儲存於系統內。

4. 測試針檢測：

檢測測試針的編號並顯示該針對應的切換電路板編號和位置。

將探棒的一端連到壓床左後方的香蕉頭插座上，另一端接觸測試針。視窗左上角顯示測試針的編號及該針對應的切換電路板編號。以下圖為例，檢測的測試針編號為 1 ，該針屬於第一塊切換電路板。

對應圖中顯示對應的切換電路板位置。以下圖為例，測試針1 的對應位置以紅色方塊表示。

    

5. IC 空焊自我診斷：

檢測 IC空焊狀態板(Signal Condition Board / TestJet Mux Card) 或 IC空焊控制板(Open Tester Control Board)是否錯誤。

5.1. 安裝設定顯示

顯示IC空焊狀態板接連測試棒的狀況，並可執行測試棒尋找的功能。若此視窗無法顯示，可能10 Pin排線未接妥或檢測 IC 空焊狀態板或 IC空焊控制板錯誤。

此視窗共可顯示 4 個IC空焊控制板的探測棒接線狀況，每個IC空焊控制板可連接64個探測棒。每個格子表示一個對應的探測棒接線狀況，空白該位置沒有測試棒，綠色"▋"即表示該位置已有探測棒，若有接探測棒而無"▋"出現表示探測棒接線有問題。若要顯示探測棒的編號，可用手指接觸探測棒的中心圓孔，視窗左上角顯示此探測棒編號，而綠色"▋"顏色會改成紅色。

以下圖為例，系統內有一個 IC空焊控制板，此治具上有 9 個探測棒(1-4，10-14)，用手指接觸 1號探測棒的中心圓孔，視窗左上角顯示的編號為第1塊 IC空焊控制板的第1個探測棒，而綠色"▋"顏色會改成紅色。

5.2. 穩定度顯示

測試某一個IC空焊的測試程式是否穩定。視窗分為測試設定、測試值分佈圖和檢測報告三部分。

1. 測試設定：

    設定執行穩定度測試的測試步驟、測試次數和上下限百分比。

2. 測試值分佈圖：

    以折線圖顯示量測值的變化狀況。若分佈曲線超過上下限百分比，

    表示此步驟之測試不穩，可增加重測次數或延遲時間。

3. 檢測報告：

    以文字表示量測值的變化狀況，並計算最大量測值及最小量測值。

以下圖為例，測試第 347步驟 1000次，上下限各為 10%。在這 1000次測試中，最大量測值為 78.02155，最小量測值為 74.56927，第 1000次量測值為 77.33109。DEV 為該次與前一次的量測值變動率，如第 999次與第 1000次量測值變動率為 1.81818%。

6. FUN穩定度測試

與 IC 空焊的穩定度測試相同。請參考本章第5.2節。

7. 外接FUN

提供使用者在本系統內執行外接FUN的除錯環境。本功能會將切換電路板切換至動態測試模式，以隔離本系統和外接動態測試儀器，避免執行外接FUN的除錯時損害本系統，此時可以將動態測試電源打開。執行本功能時顯示以下視窗提醒使用者應注意的事項。離開動態測試時切換電路板將切換至放電模式，請務必確定已將電源關閉以免損害本系統。