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作为芯片测量工程师 获得精确的直流测量结果 是许多应用的常见需求 但，仅仅购买高精度和高灵敏度的仪器 是不够的。 芯片测试测量各种不同的误差 都会影响读数的准确性 此外， 对仪器参数进行微小的调整 也可能会产生不同的结果。 为了达到最高精度， 您需要先彻底了解您的仪器 才能使用各种方法来减少误差。 NI，美国国家仪器公司 发布推出的 《最大化直流测量性能实用指南》 详细介绍如何使用源测量单元（SMU） 来进行DC测量。 本指南，回顾了仪器的基础知识 SUM的使用方法 以及仪器设置的相关的功能。 然后介绍了测试系统中 有助于减少各种DC测量误差的 最佳工程实践。 本指南在常见的测量场景下 介绍这些最佳实践 以便您直观的理解 何时何地最有效的应用所涵盖的概念。 本指南中介绍的各种方法 可帮助您为需要进行直流测量的应用 提供更高的精度。 ONSemi产品线经理Ray Morgan评价 借助基于PXI的新平台 我们不仅保持了测量性能和完整性 同时将半导体验证的成本降低了3倍 吞吐量提升了10倍。 TI系统集成和工具负责人评价： 依靠NI帮助 我们成功的将冗长的手动测试过程 转换成高自动化的测试过程， 并将回归测试周期从数周缩短至数天 同时提高了可靠性、可重复性和可维护性 |
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