Saniffer从2019年11月到2020年4月间组织了六次针对SSD测试相关的技术讲座,分别邀请了全球业内知名的技术专家依次讲述了并且演示了NAND测试,PCIe Gen 4 NVMe SSD性能、功能、协议兼容性、故障注入测试,SSD热插拔、电压拉偏和功耗测试,PCIe Gen 4和Gen 5协议分析和问题诊断,UFS 3.0/3.1协议分析,以及UNH IOLLabs针对NVMe 1.4 spec的兼容性测试的详细解读等主题。 Saniffer现在将上述六次讲座的内容汇总后重新上传,全部提供1080P高清视频,可以在手机端高清观看,有进一步兴趣了解更多内容的朋友可以联系下面图片中的邮箱,或者点击左下角“阅读原文”留言获取原始PPT文档或者高清视频,或者告知我们你们未来希望希望获得哪些方面的测试技术讲座,我们后续会继续联系国外专家尽量满足大家的需求。 插播: Saniffer公司邀请了Prodigy公司UFS协议分析专家于2021/3/16日下午 3:30 - 4:30进行Prodigy UFS 4.0协议分析仪技术讲座,有需要参加的可以点击左下角“阅读原文”留言,我们会提前发送会议邀请连接。下面是技术讲座内容: 1. Overview of UFS2.1 and UFS 3.1 2. Debugging UFS Protocol host and device. 3. Discussion on Upcoming Features on UFS 4.0 4. UFS Protocol Analyzer features: powerful trigger capabilities, segmented memory and continuous streaming 5. Live Demo SSD测试技术讲座第一期:NAND特性分析技术分享 2019.11.16 SSD测试技术讲座第二期:PCIE GEN 3/4 NVME SSD测试技术分享 2019.11.23 SSD测试技术讲座第三期:NVME SSD 热插拔和电压拉偏及功耗测试_2019.11.30 本次技术分享将围绕PCIe/NVMe Gen3/4 SSD的热插拔测试和电压拉偏测试,该技术也可以应用于传统的SAS/SATA SSD的测试。 技术分享内容主题概略如下:
SSD测试技术讲座第四期:PCIE GEN4&5协议分析诊断测试技术分享_2019.12.7 本次PCIe Gen 4/5协议分析主题为SerialTek/Ellisys公司的革命性架构设计介绍以及live demo,SerialTek Gen 5 x16协议分析仪以及Gen 4协议分析仪获得国外如Intel, Broadcom, Micron, Microsoft, Phison, Kioxia,以及国内如Memblaze, YMTC, Dputech, Inspur等知名公司的应用,该设计彻底解决了传统Gen 4/5协议分析仪的固有弊端,在协议解码速度(1秒钟解码144GB buffer trace),Interposer信号高保真,无需抓取bootup过程(反复上下电不会解码错误),trace保存速度(保存144GB仅需要6分钟),随时断网,远程协助,四合一interposer设计(U.2/U.3/singe port/dual port)等方面获得业内用户的广泛认同,同时也提供了极高的性价比。 SSD测试技术讲座第五期:UFS 3.0协议分析诊断测试技术分享_2019.12.21 本次UFS 3.0/3.1协议分析技术讲座邀请了Prodigy公司专家Godfree,通过PPT以及实际演示展示了其分析仪的强大功能,目前该分析仪已经应用于业内知名的公司如:Qualcomm, Samsung, Micron, Toshiba/Kioxia以及国内从事UFS Host和device的知名公司。 UFS 2.1存储已经广泛应用中高端手机里面,现在或明年一些新发布的手机将采用更快的UFS3.0存储。同时,UFS 存储从2017年起已经成为SATA SSD或者NVMeSSD的一个可选替代产品开始应用在一些笔记本电脑上面。所以,对于从事SSD的工程师也需要关注了解UFS3.0协议的发展状况。 本次UFS 3.0协议诊断和分析不仅适合从事UFS3.0的固件开发/测试学习,也适合UFS3.0架构设计,产品验证,应用工程(AE),技术支持,失效分析等部门工程师。 本次技术分享内容主题如下:
SSD测试技术讲座第六期:UNH IOL NVME 1.4 CTS测试分享_2020.4.11
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