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Saniffer公司针对SSD测试技术讲座的高清视频汇编

 wanglh5555 2021-03-06

Saniffer从2019年11月到2020年4月间组织了六次针对SSD测试相关的技术讲座,分别邀请了全球业内知名的技术专家依次讲述了并且演示了NAND测试,PCIe Gen 4 NVMe SSD性能、功能、协议兼容性、故障注入测试,SSD热插拔、电压拉偏和功耗测试,PCIe Gen 4和Gen 5协议分析和问题诊断,UFS 3.0/3.1协议分析,以及UNH IOLLabs针对NVMe 1.4 spec的兼容性测试的详细解读等主题。

Saniffer现在将上述六次讲座的内容汇总后重新上传,全部提供1080P高清视频,可以在手机端高清观看,有进一步兴趣了解更多内容的朋友可以联系下面图片中的邮箱,或者点击左下角“阅读原文”留言获取原始PPT文档或者高清视频,或者告知我们你们未来希望希望获得哪些方面的测试技术讲座,我们后续会继续联系国外专家尽量满足大家的需求。


插播:

Saniffer公司邀请了Prodigy公司UFS协议分析专家于2021/3/16日下午 3:30 - 4:30进行Prodigy UFS 4.0协议分析仪技术讲座,有需要参加的可以点击左下角“阅读原文”留言,我们会提前发送会议邀请连接。下面是技术讲座内容:

1. Overview of UFS2.1 and UFS 3.1

2. Debugging UFS Protocol host and device.

3. Discussion on Upcoming Features on UFS 4.0

4. UFS Protocol Analyzer features:  powerful trigger capabilities, segmented memory and continuous streaming

5. Live Demo

SSD测试技术讲座第一期:NAND特性分析技术分享 2019.11.16

意大利NplusT公司专家Tamas Kerekes 围绕针对SSD设计非常重要的NAND Flash的特性分析和测试进行的技术分享,包括如何测试NAND在不同温度下的误码率(BER)分布曲线,这对于从事ECC/LDPC算法优化的工程师比较有帮助。
 
主题如下:
为什么需要NAND特性分析
NAND特性分析的流程讲解
针对NAND特性分析的工具要求
测试产品相关技术
现场技术演示
Q&A问题答疑

SSD测试技术讲座第二期:PCIE GEN 3/4 NVME SSD测试技术分享 2019.11.23

本次Seminar主题是美国SanBlaze公司针对PCIe Gen 3/4 NVMe SSD的测试:
性能和延迟测试
数据一致性测试
600+个自动化定制脚本NVMe 测试脚本
oNVMe通用命令
oNVMe I/O测试
oNVMe Reset
oNVMe namespace管理
oNVMe 基本管理命令
oNVMe-MI 完整命令集测试
oNVMe dual port 测试
oNVMe 热插拔和链路测试
oNVMe Quarch信号毛刺注入测试
oNVMe其它指令测试,例如SR-IOV
oUNH IOL NVMe 1.4认证测试
oUNH IOL NVMe-MI 认证测试
oSSD Endurance JEDEC Spec长时间测试
电压/电流/功耗测试
完整Quarch热插拔集成
NVMe 1.4规范完整支持
SGL/PRP支持可变block size/metadata/Bit Buck
掉电测试,支持数据校验/Atomicity校验
针对VF的完整SR-IOV支持
支持VDM,SRIS/SNRS, ZNS, TCP等测试
针对NVMe SSD和盘柜的环境测试支持(-5C to 75C)
纯软件方案/基于定制的硬件环境
制动选择Single 或者Dual Port NVMe SSD
基于Web的GUI 管理
... ...

SSD测试技术讲座第三期:NVME SSD 热插拔和电压拉偏及功耗测试_2019.11.30

本次SSD测试技术分享为邀请全球SSD热插拔自动化测试以及电压拉偏和功耗测试领域排名#1的英国Quarch公司总部CTO, Andy Norrie进行技术分享。
 

本次技术分享将围绕PCIe/NVMe Gen3/4 SSD的热插拔测试和电压拉偏测试,该技术也可以应用于传统的SAS/SATA SSD的测试。

技术分享内容主题概略如下:

  • 为什么针对热插拔和电压拉偏需要自动化测试

  • 关于热插拔和电压拉偏测试人们需要了解什么

  • 热插拔技术分享以及演示

  • 电压拉偏技术分享

  • Python脚本支持介绍

  • 热插拔和电压拉偏视频演示

    • Introduction to Hot-swap & fault injection testing

    • Introduction to power analysis for storage devices

    • Introduction to Quarch Compliance Suite

    • FMS 2019_ Automated hot-swap & fault injection

    • FMS 2019_ Automated power_performance testing

    • Quarch Power Studio - Integration with Iometer

    • Quarch Hotplug module and array controller demo

  • Q&A

   

SSD测试技术讲座第四期:PCIE GEN4&5协议分析诊断测试技术分享_2019.12.7


本次PCIe Gen 4/5协议分析主题为SerialTek/Ellisys公司的革命性架构设计介绍以及live demo,SerialTek Gen 5 x16协议分析仪以及Gen 4协议分析仪获得国外如Intel, Broadcom, Micron, Microsoft, Phison, Kioxia,以及国内如Memblaze, YMTC, Dputech, Inspur等知名公司的应用,该设计彻底解决了传统Gen 4/5协议分析仪的固有弊端,在协议解码速度(1秒钟解码144GB buffer trace),Interposer信号高保真,无需抓取bootup过程(反复上下电不会解码错误),trace保存速度(保存144GB仅需要6分钟),随时断网,远程协助,四合一interposer设计(U.2/U.3/singe port/dual port)等方面获得业内用户的广泛认同,同时也提供了极高的性价比。


PCIe Gen 4/5协诊断和分析不仅适合从事NVMe SSD的firmware开发/测试(FW, FTE – Firmware Testing Engineering)部门学习,也适合于NVMe SSD架构设计(Architect),产品验证(Product Validation Engineering, 或 Test Engineering),应用工程(AE),技术支持(FAE – Field Application Engineer),失效分析(FAE – Failure Analysis Engineer)等部门。
 
同时,该技术讲座也适合用研发/测试各类通用PCIe Gen 4/5控制器和板卡类工程师学习,例如显卡,RAID卡,HBA卡,网卡(含有线以及M.2WIFI网卡),等等各种用途板卡。
 
  本次技术分享内容主题概略如下:
Gen4/5协议分析需要了解的几个痛点
Gen4/5协议分析认识的几个误区
Gen4/5协议分析仪购买的几个陷阱
Gen4/5协议分析仪产品介绍
Gen4/5协议分析Live Demo
o环境搭建
oGUI界面介绍
oTrace分析
Q&A答疑

SSD测试技术讲座第五期:UFS 3.0协议分析诊断测试技术分享_2019.12.21



本次UFS 3.0/3.1协议分析技术讲座邀请了Prodigy公司专家Godfree,通过PPT以及实际演示展示了其分析仪的强大功能,目前该分析仪已经应用于业内知名的公司如:Qualcomm, Samsung, Micron, Toshiba/Kioxia以及国内从事UFS Host和device的知名公司。

UFS 2.1存储已经广泛应用中高端手机里面,现在或明年一些新发布的手机将采用更快的UFS3.0存储。同时,UFS 存储从2017年起已经成为SATA SSD或者NVMeSSD的一个可选替代产品开始应用在一些笔记本电脑上面。所以,对于从事SSD的工程师也需要关注了解UFS3.0协议的发展状况。

本次UFS 3.0协议诊断和分析不仅适合从事UFS3.0的固件开发/测试学习,也适合UFS3.0架构设计,产品验证,应用工程(AE),技术支持,失效分析等部门工程师。

本次技术分享内容主题如下:

  • MPHY,UniPro, UFS以及SCSI协议介绍

    • UFS3.0和UFS2.0/2.1的区别,UFS3.1 Spec

    • UFS3.0协议在移动市场的应用

    • UFS3.0协议分析Live Demo

  •  环境搭建

    • GUI界面介绍

    • Trace分析

SSD测试技术讲座第六期:UNH IOL NVME 1.4 CTS测试分享_2020.4.11

本次技术讲座分成两个部分,总计2.5小时,其中前面1小时15分钟我们邀请了UNH IOL实验室主任David Woolf讲述一下关于最新的UNH IOL 针对NVMe 1.4 spec的兼容性测试认证,后面的1小时15分钟我们邀请了SanBlaze工程师演示了SanBlaze系统测试PCIe Gen 4 NVMe SSD的强大功能,SanBlaze提供的600+以上的NVMe全面测试用例,以及紧跟UNH IOL最新的NVMe 1.4 spec推出最新的兼容性测试用例。

9:00 – 10:15 UNH IOL, David Woolf
 
关于UNH-IOL (3 min)
      自我介绍
      UNH IOL是谁?
 
关于NVMe兼容性测试项目 (5 min)
      兼容性测试的目的和要求
      UNH-IOL和NVMe Org官方组织如何合作
      什么是Integrators List
      如何认证产品并加入Integrators List
     
NVMe Spec规范(10 min)
      NVMe 1.4和1.3的区别
 
NVMe SSD测试概述 (15 min)
      NVMe兼容性测试涉及范围,需要测试哪些项目?
      NVMe互操作性测试,如何测试?
      NVMe-MI
 
NVMe-oF 测试概述(10 min)
      NVMe-oF涉及哪些底层传输技术?
      NVMe-oF兼容性测试涉及范围,需要测试哪些项目? 
      NVMe-oF 互操作性测试
 
UNH-IOL NVMe Test Tools (20 min)
      测试内容以及工具使用
      IOL INTERACT™ NVMe Testing Software ver 12.0 --> 13.0增加哪些条目
      视频演示
      Demo license试用  //*发给参会者
 
Working with UNH-IOL (10 min)
      远程私有测试安排
      Plugfests
      会员费用,临时会员费用以及相关策略
 
重点回顾和答疑
 
10:15 – 11:30 SanBlaze, Stephen Hynes
 
NVMe以及SBexpress/SANalze Certified概述 (10 min)
 
UNH IOL Conformance Test演示 (35 min):
      SBExpress 测试脚本/UNH IOL测试
      脚本装载,执行,结果以及报告分析
      NVMe其它测试功能概述

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