|
人们通常在结构上根据足内侧纵弓高度将足分为高弓足、正常足和扁平足 3 种类型。 扁平足：是足部畸形的一种，在解剖学层面上是足内侧纵弓的塌陷或消失，且伴随着跟骨外翻和距骨下沉，是3种主要的足型之一。扁平足通常分为柔性和僵硬性扁平足，柔性扁平足在负重状态下足内侧纵弓塌陷或消失，在非负重状态下恢复为正常足弓；僵硬性扁平足在负重和非负重状态下足内侧纵弓都处于塌陷或消失状态。 高弓足：是3种主要足型之一，指足内侧纵弓异常增高为主要改变的足部畸形。高弓足通常分为先天性和后天性高弓足，先天性高弓足指受到遗传因素所造成的高足弓症状；后天性高弓足是由于一些病理原因或意外损伤等因素所造成的高足弓症状。 一、形态学足弓测量法 测量出足长、足背高即可。如图1，A表示足舟骨至地面的距离，B表示大拇指最前端至根骨最外缘之间距离，可以利用A/B×100来评定，计算值小于25为重度扁平足；介于25～27之间为轻度扁平足；介于27～29为正常足；大于29为高弓足。  二、足印法 （1）足弓指数 其是在静态站姿下取得足印(见图2)，a为前脚印最突出处，b为后脚跟最突出处，a b（L）与c d垂直，将该足印不含脚趾的脚掌长度L等分为三段且与c d平行，然后量测各区域的面积，分别为后足面积(A)、中足面积(B)与前足面积(C)。足弓指数AI 的计算方式为中足区域面积与足部全部面积(不包括脚趾)之比值，即足弓指数AI = B/ (A+B+C)。当足弓指数AI的数值小于0. 21为高足弓(high arch)；数值介于0. 21及0. 26 为正常足弓(normal arch)；数值大于0.26为扁平足(flat foot)。  （2）Clarke 角 定义为前足和后足足印的内侧切线与第一跖骨内侧点和腰窝内侧凹陷点连线的夹角，见图3。当 Clarke 角 < 42° 为扁平足，Clarke角> 48° 为高弓足，Clarke 角在 42°～48°为正常足。  二、足印分类法 STAVLAS 等在研究中根据腰窝部位足印内侧缘轮廓宽度 x 与腰窝部位足印外侧缘轮廓宽度 y 的长度之比将足印分为 6 种类型，见图4。Ⅰ型表示重度高弓足，x=y；Ⅱ型表示轻度高弓足，y>x ≥ 3/4 y；Ⅲ型表示正常足，3/4 y > x ≥ 2/4 y；Ⅳ型与Ⅲ型类似，2/4 y>x ≥ 1/4 y；Ⅴ型表示扁平足，1/4 y >x ≥ 0；Ⅵ型表示重度扁平足，x > y。  三、放射学评估法 通常以Meary 角测定为判定标准，即足部负重侧位 X 射线片，距骨长轴中线与第一跖骨长轴之间的夹角，见图 5。在正常负重状态下，距骨纵轴中线与第一跖骨的长轴汇成一条直线。Meary 角的正常范围是-4°至 +4°。Meary 角 > +4°则为高弓足，Meary 角 < -4° 则为扁平足。  四、人体测量学检查法 如图 6 所示，后足角即跟骨外翻角，定义为在矢状面上小腿平分线与跟骨平分线上的夹角。外翻角度在 -4°～4° 为正常足；外翻角度在 5°～20° 为生理性扁平足；外翻角度≥ 20° 为病理性扁平足；外翻角度≤-5° 为高弓足 。  总结 足印法操作便捷、成本低，并且不会对受试者产生不良的影响，作为一种简单便捷的方式在足部的研究中广泛使用。但不同的足印评估指数对不同足型的分类会产生不同的结果。足印分类法和人体测量学检测法对足部形态的测量具有较高的准确性，但通常耗时较长，涉及皮肤标记和繁琐的手工测量。因此，人体测量学评估法比较适用于小规模的研究群体。放射学评估法检测准确，但由于暴露于辐射环境下的潜在风险、成本高昂和操作流程复杂等原因，体育测量中使用较少。 |
|
|
