本文639字,阅读约需2分钟 摘 要:日本理化学研究所(理研)的研究小组开发出将X射线自由电子激光(XFEL)应用于结构分析困难的微晶体样品的技术,成功地确定了药剂候选物质和有机半导体材料等的分子结构。 关键词:X射线自由电子激光(XFEL)、理研、微结晶、药剂候选物、有机半导体、分子结构 日本理化学研究所(理研)的研究小组开发出将X射线自由电子激光(XFEL)应用于结构分析困难的微晶体样品的技术,成功地确定了药剂候选物质和有机半导体材料等的分子结构。 该研究成果有望促进更加详细地理解有机化合物的立体结构、化学性质和功能,有助于药物开发和材料开发。 XFEL和电子束三维晶体结构分析法(3D ED)的晶体结构分析比较 在有机合成化学、药学、材料科学等领域,很多化合物无法形成大晶体,因此小结晶的结构分析技术非常重要。由于电子束在样品中的散射强度比X射线高出数万倍,因此被用于微小晶体的结构分析。但是,电子衍射的缺点是在厚晶体中应用受限以及获得的数据质量差。 此次,研究小组使用XFEL设施“SACLA”,基于不易形成大晶体且晶体方向有偏差等性质,确定了解析困难的化合物的结构。在XFEL的数据处理中,通过提供从电子束得到的分子排列信息,实现了高效率的分析。利用开发的此方法,对于广泛领域内难以解析的目标对象也能得到优质的结构信息。 (1)获取原文 |
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