新生儿振幅整合脑电图临床应用专家共识

中华新生儿科杂志2019年1月 第35卷 第1期

第1-80页

DOI:10.3760/cma.j.issn.2096-2932.2019.01.002

中华医学会儿科学分会围产专业委员会

作者单位：100034，北京大学第一医院

通信作者：侯新琳， Email：[e-mail]；

程国强，Email：[e-mail]

【摘要】 振幅整合脑电图（amplitude‑integrated electroencephalography，aEEG）是评价新生儿脑功能的重要电生理手段，可以用于新生儿脑发育的评价、脑损伤诊断及预后评估，亦可用于新生儿惊厥的监测，但目前临床应用尚缺乏统一方案。本共识主要包括aEEG的应用指征、具体检查操作方法及结果判读标准，以规范aEEG在新生儿脑功能监护中的临床应用。

【关键词】 振幅整合脑电图； 婴儿，新生； 共识

DOI:10.3760/cma.j.issn.2096-2932.2019.01.002

随着围产医学和新生儿医学的发展及危重新生儿抢救水平的提高，新生儿病死率逐渐下降，极早产儿和超早产儿存活率逐步上升^［1］。但是由于存活下来的危重新生儿和小胎龄早产儿均是发生围产期脑损伤的高危人群^［2‑5］，故新生儿神经系统后遗症发生率并无显著降低。新生儿神经重症监护单元（neuro‑neonatal intensive care unit，NNICU）的理念是以“脑”作为新生儿病房管理的核心内容，期望能最大程度的减少围产期脑损伤的发生率、改善^6］amplitude‑integrated electroencephalographyaEEG）是NNICU中评价新生儿脑功能的重要电生理监测手段^［7］，目前对该检查的临床应用指征、具体方法和结果判读标准尚缺乏统一方案。为此，在中华医学会儿科学分会围产专业委员会的组织下，在广泛阅读相关文献并经业内专家讨论的基础上制定本共识，以规范aEEG的临床应用范围和判读标准，使aEEG能更广泛而且规范的用于新生儿脑发育及脑损伤的评价。

一、aEEG检测的适用范围

1.有脑损伤表现或存在脑损伤高危因素的新生儿，高危因素包括围产期缺氧窒息史、新生儿顽固性低血糖、先天性遗传代谢病、颅内出血、脑卒中、中枢神经系统感染、严重高胆红素血症等，用于发现脑损伤、评价脑损伤的程度和预后；

2.新生儿脑发育的评估；

3.新生儿惊厥和可疑惊厥发作的检测；

4.脑损伤治疗效果的评估，如亚低温治疗、抗惊厥药物止惊治疗等。

二、技术操作

1.电极选择：aEEG常用电极为头皮电极，分为记录电极和参考电极。电极放置位置与国际脑电电极10‑20系统一致。仅一个参考电极时放在前额正中，两个参考电极时则另一个放在头顶部中心Cz位置。

（1）单导（单通道）aEEG：是aEEG检查的经典通道，在评价新生儿脑发育和脑损伤方面与脑电图（EEG）有较好的一致性^［8］。单导aEEG监测记录电极首选放置在双侧顶骨P3‑P4或中央区C3‑C4部位，这两组单通道监测对足月儿脑损伤程度的评估和早产儿脑发育成熟度的评价有较好的一致性^［9‑11］。

（2）双导（双通道）aEEG：①应用于双侧大脑病变不对称的患儿，如一侧大脑中动脉梗塞，可以分别反应左右大脑半球脑功能受损的情况^［12］，记录通道常选择F3‑P3 和 F4‑P4 或 C3‑P3和C3‑P4^{［13‑14］}；②应用于新生儿惊厥患儿，可以提高新生儿惊厥检测的敏感度，记录通道可选择C3‑C4和P3‑P4同时记录，或C3‑C4、P3‑P4中任一通道联合O1‑O2、F3‑F4、T3‑T4中任一通道同时记录^{［15‑17］}。

（3）多导（多通道）aEEG：4通道、8通道等更多通道应用于aEEG监测可以提高新生儿惊厥的检出率^［18］，记录电极可以选择放置在C3、C4、O1、O2、Fp1、Fp2、T3、T4等位置。需要注意的是，多通道aEEG并不能替代全导视频脑电图（video EEG，v‑EEG）或传统脑电图（conventional EEG，c‑EEG），后者仍是诊断惊厥的金标准。

（4）特殊情况下的电极放置：如患儿有头颅血肿、局部头皮破损或进行体外膜肺氧合等操作时，记录电极位置的选择需避开皮肤损伤处和影响操作的关键部位，但要注意双侧对称。

2.检测时间：对于有脑损伤高危因素的新生儿，生后6 h内即开始首次检查；对于无高危因素、但临床出现脑病症状的，应尽快给予检测。检测时间不少于2~4 h，存在睡眠⁃觉醒周期（睡眠周期）的新生儿，需记录至少一个完整的睡眠周期。对需持续监测病情变化的患儿，可延长检测时间，如进行亚低温治疗的中⁃重度缺氧缺血性脑病（hypoxic-ischemia encephalopathy, HIE）患儿持续监测至生后72~96 h，对脑损伤恢复程度和预后评价，以及惊厥检测都有较高的敏感度和特异度^{［19‑20］}。

3.其他：

（1）建议aEEG检测同期应用视频监测：没有视频监测条件时，对检测过程中患儿出现的特殊事件，如可疑惊厥发作、呼吸暂停或喂奶、检查、治疗等操作，应记录发生时间及同期患儿表现。

（2）建议aEEG操作人员在监测过程中定时巡视：确保电极固定良好，阻抗≤20 kΩ，及时记录患儿在检测过程中发生的特殊事件。

三、aEEG的基本指标

1.上边界振幅：aEEG波谱带的上边界电压为上边界振幅，反应脑电活动所能达到的最高强度。早产儿上边界振幅随胎龄增加而降低，至37周后上边界振幅随胎龄增加而增加^{［21‑23］}。

2.下边界振幅：aEEG波谱带的下边界电压为下边界振幅，反应脑电活动的基础水平，随胎龄增加而增加^{［21‑23］}。

3.睡眠周期：指随睡眠-觉醒程度的变化，aEEG波谱带呈现光滑正弦曲线样变化，分为活动睡眠（active sleep，AS）期和安静睡眠（quiet sleep，QS）期。AS期波谱带相对窄，QS期波谱带相对宽。足月儿QS期振幅值高于AS期。睡眠周期随胎龄增加逐渐成熟，分为以下几种情况：

（1）无睡眠周期：aEEG背景活动无周期样变化，无法区分AS期和QS期。

（2）不成熟睡眠周期：背景活动可见一些周期样变化，但仅有较低振幅的周期样波动，没有出现典型的正弦样变化的背景活动。睡眠周期未达到相应胎龄的成熟度，以及睡眠周期与胎龄不符，也称为睡眠周期不成熟。

（3）成熟睡眠周期：背景活动呈现平滑的正弦样周期性变化，一个睡眠周期持续20 min以上。

4.异常放电：在aEEG上表现为下边界和（或）上边界振幅突然升高，紧随其后可能出现一段短暂的电压抑制期。其中单次惊厥发作表现为背景波谱带中断的“驼峰样”改变，反复惊厥发作表现为多次“驼峰样”改变，惊厥持续状态为惊厥发作时间超过30 min，aEEG表现为“锯齿样”波形 ^［24］ 。aEEG可以监测到电极放置位置附近、超过30 s、反复出现的惊厥发作^{［25‑27］}。新生儿惊厥在EEG上表现为反复出现的刻板波形，有确定的起始、高峰和终止时间，发作过程中振幅波动＞2 μV，持续时间≥10 s。

5.暴发间期（interburst intervals，IBI）：指两次暴发之间电压抑制的时间，反应脑成熟度和脑损伤的严重程度。早产儿IBI随胎龄增加而缩短^{［21‑22,28］}。IBI长于相应胎龄提示患儿可能存在脑损伤，IBI延长时间越长，脑损伤程度越重^［29］。

6.暴发次数：指每小时出现暴发性脑电活动的次数，反应早产儿脑电活动的成熟度，同时也反应脑损伤的严重程度。

7.连续性：指脑电活动是否始终能够保持一定波幅并围绕基线上下波动。连续性与胎龄有关，可反应脑发育的成熟度，其中AS期在校正胎龄32周以后、QS期在校正胎龄40周以后均基本表现为连续图形^{［11,23,30］}。正常新生儿中胎龄36周后的AS期和胎龄44周后的QS期均应全部表现为连续图形^［31］，但脑损伤新生儿连续性变化可落后于实际胎龄。aEEG的连续性可分为以下几种情况：

（1）连续图形：aEEG表现为波谱带宽度不变，下边界振幅波动于5~10 μV之间，上边界振幅波动于10~25 μV之间，EEG中脑电活动始终保持一定波幅并围绕基线上下波动。

（2）不连续图形：aEEG表现为波谱带增宽，下边界振幅降低。EEG中表现为低电压背景下间断出现中⁃高波幅段的暴发性波群。

需要注意的是，aEEG从原始脑电整合而来，分析aEEG的同时结合同期记录到的EEG可以获得更多评价患儿脑功能的信息，尤其是在新生儿惊厥检测时。EEG导联更广泛，信息更完善，故在对惊厥的诊断和异常波的判断方面，aEEG不能替代EEG的作用。关于EEG的具体内容在次不再赘述，可参考相关教材。

四、评估标准

1.根据脑电背景活动对脑功能进行评价：即根据aEEG上、下边界振幅和连续性对新生儿脑电活动进行分类，目前普遍采用Hellström‑Westas等^［21］提出的五分类方法：

（1）连续正常电压（continuous normal voltage，CNV）：在aEEG上表现为下边界振幅波动于5~7或10 μV之间，上边界振幅波动于10~25 μV，最高不超过50 μV。

（2）不连续正常电压（discontinuous normal voltage, DNV）：背景活动不连续，下边界振幅波动，但不超过5 μV，上边界振幅大于10 μV。

（3）暴发⁃抑制（burst suppression，BS）：不连续的背景活动，下边界振幅波动于0~2 μV之间，暴发时的振幅超过25 μV。暴发次数≥100次/h称为BS ，<100次/h称为BS-。

（4）持续低电压（continuous low voltage，CLV）：背景活动连续，振幅显著降低，上边界振幅小于10 μV，下边界振幅小于5 μV或在5 μV上下波动。

（5）电静止、平坦波（inactive，flat trace，FT）：振5 V0

其中（1）为正常，（2）为轻度异常，（3）（4）为中-重度异常，（5）为重度异常。（3）（4）（5）预示患儿预后不良^［19］。

2.根据睡眠周期进行评价：见前述“基本指标”中关于“睡眠周期”部分。睡眠周期与胎龄有关，胎龄28周以前无睡眠周期，后逐渐出现，多数胎龄32周的早产儿出现可以识别的睡眠周期，胎龄37周睡眠周期成熟，清晰可辨^{［22,30,32‑33］}。新生儿脑损伤时可能出现睡眠周期成熟度落后于胎龄。

3.根据是否存在惊厥进行评价：见前述“基本指标”中关于“异常放电”部分。仅应用单通道aEEG（P3‑P4或C3‑C4）检测惊厥敏感度较低，为12%~45%。结合同期记录到的原始脑电图形，即采用aEEG/EEG模式进行结果判读，诊断惊厥的敏感度可达76%~100%^［9,34］。双通道aEEG可使惊厥检测敏感度提高18%^［17］。推荐单通道或双通道aEEG结合同期EEG共同判读用于新生儿惊厥的筛查。在新生儿惊厥患儿中，如aEEG表现为背景活动重度异常、暴发间期超过30 s、aEEG检测过程中检测到频繁发作（发作>7次）及睡眠周期消失提示患儿预后不良^{［26,35‑36］}。

4.正常足月儿aEEG特点：背景活动为连续正常电压，即脑电活动连续，下边界振幅≥5 μV，上边界振幅≥10 μV，具有成熟的睡眠周期，未监测到异常波。如aEEG表现为背景异常或睡眠周期不成熟，提示患儿可能存在脑损伤^{［37‑39］}。

5.早产儿aEEG特点：背景活动、睡眠周期随胎龄变化，随胎龄的增加上边界振幅逐渐减低，下边界振幅逐渐升高，脑电图形逐渐由不连续图形过渡到交替图形最后变为连续图形，睡眠周期也从最早的无法辨认到出现成熟的正弦样变化，见表1。故可通过aEEG图形变化定性评价早产儿的脑发育。

除定性评价外，Burdjalov等建立了一套由aEEG的连续性、周期性、下边界振幅和带宽组成的评分系统，以定量评价早产儿脑发育成熟度，结果可靠。胎龄24~25周、27~28周、29~30周、31~32周、34周、36~37周评分总分分别为2、6、8、10、11、13分，具体评分系统见表2^［22,28］。需注意的是，仅应用该评分系统对早产儿脑发育进行评价，不能避免部分数据信息的丢失。

早产儿aEEG图形或脑功能评分是否与胎龄相符反应了脑发育成熟度，生后随日龄增长，还需动态监测评分是否与校正胎龄相符。发生脑损伤的早产儿，其分值较相应胎龄或校正胎龄降低^{［40‑42］}。

五、复查指征和时间间隔

1.脑损伤患儿：首次检查后每24 h复查一次，持续至72 h或aEEG正常，若72 h复查aEEG仍异常，1周左右复查，其后每周1次，直至aEEG正常。惊厥患儿连续监测至惊厥控制（即患儿临床表现和EEG检查均未检测到发作）后24 h^［14］。如持续脑电监测实施困难，可根据各单位具体情况适当调整。

2.早产儿：建议每2周复查一次至校正胎龄40周或脑电成熟度同足月儿。

六、报告书写内容

1.患儿信息：需包括检测当日的校正胎龄（出生胎龄 生后日龄）、使用药物（主要是镇静剂、抗癫痫药物）、低温治疗的程度及持续时间、可能影响脑损伤和脑发育的高危因素，如早产儿、围产期缺氧窒息史、颅内出血、低血糖、严重高胆红素血症等。

2.脑电图形及图形描述：附完整的aEEG图形，在图形中标注睡眠周期，同时对特殊事件进行标记。同期特征性的EEG图形也应附在报告中，如暴发⁃抑制、惊厥发作、不连续图形等。图形描述需包括aEEG背景活动（上、下边界的振幅和图形连续性）、睡眠周期及有无惊厥发作。如检测到惊厥发作，需描述发作的开始、持续和结束时间，如存在惊厥持续状态，需记录开始和结束的时间。

3.结论：根据前述aEEG背景五分类法将脑电活动分为正常、轻度、中度或重度异常；早产儿需结合胎龄特点进行结果解释；如有惊厥要单独诊断。

本共识以目前国内外aEEG在新生儿脑发育及脑损伤评价领域中的临床研究为基础，为aEEG的规范化应用做出推荐，以供临床参考。还有待更多大规模、多中心随机对照临床研究为aEEG在新生儿脑功能监护中的应用提供更高级别的临床证据，并在今后的临床实践中进一步更新和完善此共识。

（刘黎黎 侯新琳 执笔）

参与本共识制定的专家（按单位及姓氏拼音排列）：北京大学第三医院（刘云峰）；北京大学第一医院（侯新琳、刘黎黎、汤泽中、杨志仙、周丛乐）；北京市朝阳区妇幼保健院（刘敬）；复旦大学附属儿科医院（程国强、王来栓）；广州市妇女儿童医疗中心（卢伟能）；南方医科大学南方医院（黄为民）；上海市儿童医院（裘刚）；苏州大学附属儿童医院（冯星）；浙江大学医学院附属儿童医院（陈理华、罗芳）

利益冲突 所有作者均声明不存在利益冲突

参考文献（略）