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分析脑电事件相关电位波形简要步骤：
详细步骤(很长很长很长。。。慢慢看，从word笔记中复制粘贴过来好麻烦。。嗄嗄嗄。。。)： 一、打开界面，建立新的工作区，选择File—New，(Raw Files:原数据路径，History Files操作过程中数据路径，Export Files：导出数据路径，最后保存数据路径)，文件命名，同时建立三个文件夹 鼠标放在Raw Data上，鼠标右键，点击弹出窗口中的Recording infos,可以查看当前信号采集时具体参数设置，以及每个导联阻抗值，
根据以下步骤分析得到脑电事件相关电位波形
New Reference ：现在的电极帽都是以FCz做为参考电极，而实际分析ERP波形时，大部分都是根据A1A2做为参考电极 （BP的脑电帽TP9相当A1，TP10相当A2），所以根据实际要求进行更换参考电极。 在“Transformations”下拉菜单 “Channel Preprocessing” 中的选择“New Referece”，按以下窗口操作： 下面弹出的界面，双击转参考的电极，TP9，TP10，下方的勾去掉（表示参考电极不包括原参考电极FCz,如果勾选表示以原参考FCz，以及 TP9，TP10三个电极的平均值作为参考电极；不勾选以TP9，TP10两个电极的平均值作为参考电极），然后下一步。 先把所有电极全部移到右边（利用按住shift键,鼠标拖动选择），再把TP9，TP10移到左边。下方的勾去掉（表示后面数据分析不保留对TP9，TP10数据分析；如果勾选则表示后续操作依旧会对TP9，TP10操作，但TP9，TP10数据仍是以最初FCz作为参考记录的数据，），然后点击下一步。 New Reference Channel:表示添加一个参考电极的名称，不加。即不勾此处 Old Reference Channel：表示是否将原来的参考电极作为一个新的记录电极（FCz数据的重要程度），此处加上，电极名称命名为FCz 最后点击完成。 2. 眼电纠正（去眼电） Ocular Correction ：将眨眼或眼动带来的肌电影响进行纠正（分垂直眼电和水平眼电）。 在“Transformations”下拉菜单中的选择,”Artifact Rejection”,再选择，“Ocular Correction ICA”，弹出（用传统的去眼电方法（Ocular Correction）效果不好，而且去除眼电时容易去除过度） 选择下一步。 检测眼电方式：选择通过平均波幅，再选择下一步。
选择检测眼电的电极，并选择下一步。
BP-64导脑电帽不用参考水平眼电也可以，也可以用FT9用来参考水平眼电 VEOG，垂直眼电，核磁型的选择ECG，非核磁型的选择，IO HEOG，水平眼电，选择用FT9
做独立成份分析，选择时间长度为50s,事先浏览所有波形，选择较好的一段处理，之后处理的数据套用在整段数据中，然后下一步。
再下一步。
电极放大观看；
电极选择放大，按住ctrl，同时点击要选择的电极，选择结束后，双击鼠标左键
观察右边选择的红色电极对应的波形，如果波形与被测垂直眼电电极的波形相一致则选择（变红），否则不选择（绿色），即双击相应电极使其变绿。全部选择后，点击finish。
（此步可以不操作，观察去眼电前后脑电波形的的变化：鼠标选中，去眼电前一步操作数据，直接拖到波形显示界面）
3.滤波 Filters： 根据所要分析的信号频率，适当设定波形带宽，滤除不必要的信号。
参数：low Cutoff一般选0.05，High Cutoff,滤波设置在30左右，（具体根据实际选择），Notch交流电50HZ限波,（50Hz工频干扰较大则选），Order,滤波强度选择4，中等即可（选到4，相对应的24db,,选择8，对应48db），最后点击OK，进行滤波。
4.分段 Segmentation ：根据标志将要进行叠加平均的脑电信号提取出来。
分段标准：默认选根据marker的位置来分段，下一步
Marker类型，根据事件类型切割，双击从左边移动到右边，（将S11,S22,S33,） （由于后面做叠加平均时，BP不能自动根据事件类型做叠加平均，所以此处要只选择一个事件类型，如S11，然后后面的一系列操作处理做完后，再选择，S22,操作照上，然后再选择S33）
设置切割的时间段，设置为从刺激开始的前-300ms，到刺激呈现后的1300ms,总共1600， （Skip Bad intervals ,跳过之前伪迹设置bad的时间段，以及其他判定bad的时间段。）
弹出以下界面，界面下方显示1/30，表示当前界面中grid 显示的是第2段，总共有30段。
5.基线校正 Baseline Correction （分段后做）
选择刺激前的300ms，作为基线矫正的时间段
6.伪迹去除 ：去除由于设备或被试动作带来的伪差信号，干扰信号,不相关的信号噪音。 方法一、Artifact Rejection(需手动)
选择半自动处理
电极全部选择，（除了眼电，此处用EOG采集的垂直眼电，核磁型的则选IO采集的垂直眼电，另外，两个脑电帽都是用FT9作为水平眼电参考，HEOG）
设置去除伪迹的标准； 设置每个毫秒电极电压变化超过50uv, 判定前后200ms范围内为伪迹
设置在200ms范围内，电极电压峰峰值超过200uv，判定前后200ms范围内为伪迹
波幅超过-100~100uv判定前后200ms范围内为伪迹
设置在100ms范围内，电极电压峰峰值低于0.5uv，判定前后200ms范围内为伪迹
伪迹各种参数都设置后，点击OK，然后就开始进行除伪迹处理了
半自动OK后会弹出界面，按住shift键，同时鼠标点击左键，可以对波形进行选中操作，伪迹选中或去除，最后点击OK。 全自动则直接跳过shift这一步操作。
方法二、Raw Data Inspection(自动)，此法用在Filter后，但不建议用该方法，当数据漂移较严重，或干扰很大，伪迹很大时可能会被去过度，导致数据最后剩余的trial很少。 伪迹占整个数据的的百分比，一般不要超过20%，超过20%数据就没有可靠性，（个别电极超过20%，且电极信号对后续数据不是很重要可以去掉，但是如果很多电极伪迹超过20%，则此数据放弃使用，或重新设置之前设置的参数。）
查看统计数据，确认数据没问题后，就可以点击界面的OK，
选中伪迹的时间段部分粉红色标记出来，后续处理中直接跳过这段数据。
7.叠加平均 Average
鼠标双击，单个电极名，可放大观看，
鼠标放在波形图上，点击鼠标右键，弹出选项，则显示地形图
调从脑上往下看，100度角度观看，,鼠标放在地形图上，右键，弹出选项，选择Settings of Mapping View…
8、另外，还可以进行峰值检测（Peak Detection）,步骤如下： Transformation→Segment Analysis Functions→Result Evaluation→Peak Detection,弹出如下窗口
点击Next,
如上图所示，填写所要检测的峰值的名称、范围等。 点击Next，选择所要记录的脑区，如下图所示，
完成后，出现如下界面，预览下结果，如可以，点击ok即可。
出现如下界面，
还可将峰值导出到Excel等文件中，步骤如下： Export→Peak Information,弹出如下窗口，依次填写以下红线标注的地方。
点击Close便可导出text文件，可用Excel将其打开，便于后期统计。 二、批处理 如若之后处理步骤与上述的一致的话，就可以进行批处理（如果在数据处理过程中并非全部自动，而有手动部分则在批处理过程会在每一步的手动操作停止，待手动操作结束后继续批量处理，），步骤如下： History Template→New,出现以下界面，将左边处理好的步骤拖到Root里即可，就生成了一个数据处理模板，之后的数据，拖动Root到所要处理的原数据即可。
当有大量的数据要处理时，则用另一种批量处理方法，
然后，点击Apply to History Files
注意： 格外： 格外的参数设置： 设置，坐标轴正值在上，负值在下，显示
此处，画横线的勾，去掉
在做完，去眼电，滤波 Filters后，[分段切割Segmentation ，基线校正 Baseline Correction ，伪迹去除 Raw Data Inspection，叠加平均 Average] 可以简单的一起处理，即将相同步骤拖到所要处理的部分即可。
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